[发明专利]用来处理薄膜的装置以及方法

说明书

本发明揭示一种涉及用来处理薄膜的装置。用来处理薄膜的装置包括：状态量测构件，拍摄薄膜的图像；状态确定构件，基于由状态量测构件拍摄的薄膜的图像来确定薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由状态确定构件所确定的薄膜的位置状态，在薄膜上显示与薄膜的位置状态对应的标记。

技术领域

各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法。更具体而言，各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置，其量测并显示薄膜的状态并使得能够确定薄膜的状态。

背景技术

光学薄膜一般是指用于制造例如液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等显示装置的薄膜，且光学薄膜的实例可包括偏光薄膜、扩散薄膜、反射薄膜、棱镜薄膜等。

作为一种光学薄膜的偏光薄膜是用于向液晶显示装置透射具有某一波长的光的光学元件。

在一般偏光薄膜中，偏光器保护薄膜(例如，三乙酰纤维素(TriAcetylCellulose，TAC)薄膜)堆叠于可包含聚乙烯醇(PolyVinyl Alcohol，PVA)的偏光器的一个表面或两个表面上，且偏光器可具有在其中黏着剂层、离型薄膜、表面保护薄膜、功能涂层等堆叠于偏光器保护薄膜上的多层式结构。

此种多层式偏光薄膜一般制造成片形卷绕于滚筒上，且可根据用途切割并使用单独成片的偏光薄膜。

在制造偏光薄膜的一般制程中，以碘或颜料对PVA薄膜进行染色，然后向PVA薄膜添加硼酸，将碘或颜料联接至PVA薄膜，并拉伸PVA薄膜。

所述染色、联接及拉伸制程可分别或同时执行，且这些制程的次序可改变。

在完成所述染色、联接及拉伸制程之后，将所制备的偏光器干燥，并将例如TAC等偏光器保护薄膜黏着至经干燥的偏光器的一个表面或两个表面以制备偏光板。

在一般光学薄膜中，示出光学薄膜的状态的标记在制造光学薄膜期间可被删除或改变，且使用者可能无法识别光学薄膜的状态或可能无法明确对应于标记的缺陷的位置。因此，可能必须对薄膜状态进行复验，此极为不方便。

此外，可能不容易根据薄膜的状态而明确指定在成品或半成品中的缺陷的存在，且在严苛的条件下对制造薄膜的制程进行控制以防止缺陷，此会降低薄膜制造制程的效率并增大薄膜的成本。

在韩国专利公开案第2016-12441号(发表于2016年2月3日，发明名称：光学薄膜的制备方法、由所述相同方法制备的光学构件及光学薄膜以及包含其的偏光板及液晶显示器)中揭示了现有技术。

发明内容

技术挑战

各实施例是有关于一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法，其量测、确定并显示所述薄膜的状态。

技术解决方案

所述实施例可通过提供一种用来处理薄膜的装置而达成，所述装置包括：状态量测构件，拍摄薄膜的图像；状态确定构件，基于由状态量测构件拍摄的薄膜的图像来确定薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由状态确定构件所确定的薄膜的位置状态，根据薄膜的位置状态来显示标记。

状态量测构件可包括：光照射构件，向薄膜照射光；以及图像拍摄构件，接收被照射至薄膜的光并拍摄薄膜的图像。

光照射构件可照射与薄膜的宽度方向平行的线性光。

用来处理薄膜的装置可包括多个状态量测构件，且状态量测构件可沿薄膜的纵向方向对齐。

状态量测构件可包括：第一状态量测构件，在第一状态量测构件中，第一光照射构件设置于薄膜的第一侧上且第一图像拍摄构件设置于薄膜的第二侧上；以及第二状态量测构件，在第二状态量测构件中，第二光照射构件设置于薄膜的第二侧上且第二图像拍摄构件设置于薄膜的第一侧上。