[发明专利]用于散装货物的流程集成的光学分析的传感器系统和方法

说明书

本发明涉及一种用于散装货物(2)的光学分析的传感器系统和方法，传感器系统具有用于容纳待检查的散装货物(2)的样品空间(1)，其中，在样品空间(1)中实现在散装货物(2)中延伸的测量段。在此，存在用于改变测量段的长度的部件(71，81，72，82，12，12.4，12.5)。此外，本发明涉及一种装备有根据本发明的系统的收割机或实验室系统或移动系统。

技术领域

本发明涉及一种用于散装货物的流程集成的光学分析、例如用于谷物等的光学分析的传感器系统和方法。在此，在样品空间中容纳有待检查的散装货物，其中，在样品空间中实现在散装货物中延伸的测量段。散装货物在此尤其是可以在其湿度或特定的内含物的份额方面被检查。用于这种传感器系统的可能的应用是：例如谷物样品也在联合收割机上的脱粒过程期间检查其剩余湿度或包含的内含物。在此，测量段是特别重要的，在测量段上执行散装货物的光学检查。

背景技术

测量段随后理解为如下纵向区段，在该纵向区段上，用于光学分析的测量辐射穿过散装货物。测量段的最佳的长度在此尤其是也取决于待检查的散装货物的类型。有意义地为此关心的是，在待检查的散装货物的谷粒结构的情况下，为了对测量结果进行有意义的平均，沿着测量段布置多个谷粒。如果例如在脱粒过程期间想检查菜籽，则利用比在检查豌豆或豆子的情况下需要的更短的测量段可能是足够的。

最佳的测量段尤其是也以如下方式往上受到限制：层厚不能够太大，使得测量辐射在其穿过待检查的散装货物的路径上在一定程度中减弱，从而可评估的强度不再到达用于分析的接收器。

发明内容

因此，本发明所要解决的技术问题在于，提供一种传感器系统，其可以灵活地用于不同的散装货物。

该技术问题通过具有在独立权利要求中引用的特征的设备或方法来解决；从属权利要求涉及本发明的有利的实施方式和改进方案。

根据本发明的用于散装货物的光学分析的传感器系统具有用于容纳分别待检查的散装货物的样品空间。在此，在样品空间中，在散装货物中延伸的测量段例如在针对电磁测量辐射的两个穿过窗口之间实现。根据本发明存在用于改变测量段的长度的部件。

通过提到的部件，可以将测量段匹配于分别待分析的散装货物，当检查豆子时例如调节出比较长的测量段，并且当待检查的散装货物是菜籽时例如调节出比较短的测量段。由此实现的是，可以如下地优化测量段，使得可以关于多个待检查的谷粒执行有意义的平均，并且尽管如此在接收器上却仍然到来了透射的或透射反射的测量辐射的对于分析来说足够的强度。

用于测量段的长度的典型的值在3mm至40mm的范围内，尤其是在6mm至25mm的范围内。

在本发明的第一实施方式中，用于改变测量段的部件包括至少一个布置在偏心轮上的偏心轮壳体，其具有针对测量辐射的穿过窗口。在此，偏心轮壳体在偏心轮转动时实施运动，其具有沿着测量段的分量。换言之，在偏心轮转动时，测量段要么延长要么缩短。在此，通过使用偏心轮可以比较简单地将旋转运动转换为具有至少一个平移分量的运动。

附加地或替换地，用于改变测量段的部件也可以包括布置在传感器壳体上的元件，借助该元件，针对测量辐射的穿过窗口可以纯粹平移地运动，这同样是用于调节分别感兴趣的测量段的简单的可能性。

作为可简单实现的可能性，为此例如考虑的是，将可平移运动的元件实施为可移动的、在端面侧设有针对测量辐射的穿过窗口的圆柱形件。由于圆柱形件平移地、尤其是轴向地运动，所以具有穿过窗口的端面侧沿着测量段移动，并且因此调节测量段的长度。