[发明专利]用于散装货物的流程集成的光学分析的传感器系统和方法

权利要求书

1.一种用于散装货物(2)的光学分析的传感器系统，传感器系统具有用于容纳待检查的散装货物(2)的样品空间(1)，其中，在样品空间(1)中实现在散装货物(2)中延伸的测量段，

其特征在于，存在用于改变测量段的长度的部件(71，81，72，82，12，12.4，12.5)。

2.根据权利要求1所述的传感器系统，

其特征在于，

用于改变测量段的部件包括至少一个布置在偏心轮(72，82)上的偏心轮壳体(71，81)，偏心轮壳体具有针对测量辐射的穿过窗口(74，84)，所述偏心轮壳体在偏心轮(72，82)转动时实施具有沿着测量段的分量的运动。

3.根据权利要求1所述的传感器系统，

其特征在于，

所述部件包括布置在传感器壳体(11，11.4，11.5)上的元件(12，12.4，12.5)，借助所述元件，针对测量辐射的穿过窗口(74.3，74.4，74.5)能够纯粹平移地运动。

4.根据权利要求3所述的传感器系统，

其特征在于，

所述元件(12，12.4，12.5)是可轴向移动的、在端面侧设有针对测量辐射的穿过窗口(74.3，74.4，74.5)的圆柱形件。

5.根据权利要求3或4所述的传感器系统，

其特征在于，

所述元件(12)或所述圆柱形件布置在U形结构中，并且所述穿过窗口与U形结构的其中一个侧边的内侧相对设置。

6.根据权利要求5所述的传感器系统，

其特征在于，

在U形结构的侧边的内侧布置有针对测量辐射的另外的穿过窗口(84.3)或者至少部分反射测量辐射的元件。

7.根据权利要求3或4所述的传感器系统，

其特征在于，

存在至少一个与传感器壳体(11.4)连接的支柱(13，14)，在支柱上布置有保持架(15，15.5)，并且其中，在保持架(15)上布置有针对测量辐射的进入窗口(84.4)或至少部分反射测量辐射的元件(16)。

8.根据上述权利要求中任一项所述的传感器系统，

其特征在于，存在用于将待检查的散装货物连续或近似连续地输送到样品空间或将散装货物从样品空间运出的部件。

9.一种具有根据上述权利要求中任一项所述的传感器系统的收割机。

10.根据权利要求9所述的收割机，

其特征在于，所述收割机是联合收割机。

11.根据权利要求10所述的收割机，

其特征在于，

样品空间布置在联合收割机的脱粒装置与谷物箱之间的区域中。

12.一种用于散装货物(2)的光学分析的方法，其包括如下步骤：

-将待检查的散装货物输送至样品空间(1)，

-在单个测量时间段期间将电磁辐射引导穿过在位于样品空间中的散装货物(2)中延伸的可变长度的测量段，并且评估由接收器单元在单个测量时间段期间接收的测量辐射，

-将散装货物(2)从样品空间运出。

13.根据权利要求12所述的方法，

其特征在于，

将散装货物(2)输送到样品空间中或将散装货物从样品空间中运出以如下方式控制，即，所述散装货物在测量段的区域中在单个测量时间段期间处于静止。

14.根据权利要求12所述的方法，

其特征在于，

将散装货物(2)输送到样品空间或将散装货物从样品空间中运出以如下方式控制，即，所述散装货物(2)在测量段的区域中在单个测量时间段期间处于运动。