[发明专利]自由空间部分测试器

说明书

本发明公开用于自由空间部分测试器(FSST)的方法和设备。在一个示例中，设备包括框架、第一喇叭天线、第二喇叭天线、控制器和分析器。框架具有支撑平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分的平台。第一喇叭天线将微波能量传输到TFT部分并从TFT部分接收反射的能量。第二喇叭天线接收通过TFT部分传输的微波能量。控制器联接到TFT部分并向TFT部分提供至少一个激励或条件。分析器使用第一喇叭天线和第二喇叭天线测量TFT部分的特性。测量特性的示例包括TFT部分的测量的微波频率响应、传输响应或反射响应。在一个示例中，如果TFT部分的测量特性表明TFT部分是可接受的，则TFT部分用于集成到平板天线中。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年5月20日提交的题为“自由空间部分测试器(FSST)”、申请号为62/339,711的美国临时申请的优先权，并通过引用其相关内容并入本文。

相关申请

本申请涉及以下共同在审的申请：2016年3月3日提交的题为“用于圆柱形馈电天线的天线元件放置”、序列号为15/059,837的美国专利申请；2016年3月3日提交的题为“圆柱形馈电天线的孔分割”、序列号为15/059,843的美国专利申请；2016年12月9日提交的题为“用于驱动单元的分布式直接布置”、序列号为15/374,709的美国专利申请，其转让给本发明的全体受让人。

技术领域

本发明的示例涉及包括卫星通信和天线的通信领域。更具体地，本发明的示例涉及一种用于平板天线的自由空间部分测试器(FSST)。

背景技术

卫星通信包含微波的传输。这种微波波长很短并且在千兆赫兹(GHz)范围内以高频传输。天线可以产生高频微波聚焦波束，允许具有宽带宽和高传输速率的点对点通信。可用于确定天线是否正常运行的测量是微波频率响应。这是响应于激励或信号的天线输出频谱的定量测量。与输入激励或信号相比，它可以根据频率提供天线输出的幅值和相位的测量。确定天线的微波频率响应对天线是有用性能测量。

发明内容

公开用于自由空间部分测试器(FSST)的方法和设备。在一个示例中，设备包括框架、第一喇叭天线、第二喇叭天线、控制器和分析器。该框架具有支撑平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分的平台。第一喇叭天线将微波能量传输到TFT部分并从TFT部分接收反射的能量。第二喇叭天线接收通过TFT部分传输的微波能量。控制器联接到TFT部分并向TFT部分提供至少一个激励或条件。分析器使用第一喇叭天线和第二喇叭天线测量TFT部分的特性。测量特性的示例包括TFT部分的测量的微波频率响应、传输响应或反射响应。在一个示例中，如果TFT部分的测量特性表明TFT部分是可接受的，则TFT部分用于集成到平板天线中。

附图说明

从下面给出的详细描述以及各个示例的附图和示例中将更全面地理解本发明，然而，不应将本发明限制于具体示例和示例，而是仅用于说明和理解。

图1A示出示例性自由空间部分测试器(FSST)；

图1B示出图1A的FSST的部件的示例性框图；

图1C示出用于操作图1A和1B的FSST的示例性操作；

图1D示出用于提供圆柱波馈电的同轴馈电的一个示例的俯视图；

图1E示出根据一个示例的具有一个或多个放置在围绕圆柱形馈电天线的输入馈电的同心环中的天线元件阵列的孔；

图2示出根据一个示例的包括接地平面和可重构谐振器层的一行天线元件的透视图；

图3示出可调谐谐振器/狭缝的一个示例；

图4示出物理天线孔的一个示例的截面图；

图5A-5D示出用于创建狭缝阵列的不同层的一个示例；