[发明专利]自由空间部分测试器

权利要求书

1.一种用于自由空间部分测试器的设备，包括：

框架，具有支撑平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分的平台；

第一喇叭天线，用于将微波能量传输到所述薄膜晶体管部分并从所述薄膜晶体管部分接收反射的微波能量；

第二喇叭天线，用于接收通过所述薄膜晶体管部分传输的微波能量；

控制器，用于联接到所述薄膜晶体管部分，并向所述薄膜晶体管部分提供至少一个激励或条件；以及

分析器，使用所述第一喇叭天线和所述第二喇叭天线测量所述薄膜晶体管部分的特性。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述分析器用于测量包括所述薄膜晶体管部分在所述第一喇叭天线或所述第二喇叭天线处的微波频率响应的特性。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述分析器用于在从所述控制器向所述薄膜晶体管部分提供命令信号激励时以及不从所述控制器向所述薄膜晶体管部分提供命令信号激励时，在所述第一喇叭天线或所述第二喇叭天线处测量微波频率响应。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，所述分析器用于测量所述薄膜晶体管部分在所述第二喇叭天线处的传输响应以及所述薄膜晶体管部分在所述第一喇叭天线处的反射响应。

5.根据权利要求4所述的设备，进一步包括：

计算机，联接到所述控制器和所述分析器，并且基于一个或多个激励校准所述薄膜晶体管部分的微波频率响应、传输响应或反射响应中的至少一个。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述计算机用于描述所述薄膜晶体管部分的微波频率响应、传输响应或反射响应特性。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述条件包括环境条件。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，如果所述薄膜晶体管部分的测量特性表明所述薄膜晶体管部分是可接受的，则所述薄膜晶体管部分用于集成到平板天线中。

9.一种用于自由空间部分测试器的方法，包括：

将微波能量应用于平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分；

在将所述微波能量应用于所述薄膜晶体管部分时，测量通过所述薄膜晶体管部分传输的传输微波能量或来自所述薄膜晶体管部分的反射微波能量中的至少一个；以及

校准测量的微波能量。

10.根据权利要求9所述的方法，进一步包括，测量所述薄膜晶体管部分的传输系数或反射系数。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，根据所述薄膜晶体管部分的微波能量频率或命令信号，测量所述传输系数或反射系数。

12.根据权利要求10所述的方法，其中，所述系数包括相位和振幅值。

13.根据权利要求11所述的方法，进一步包括，校准所述传输系数或反射系数。

14.根据权利要求11所述的方法，进一步包括：改变到所述薄膜晶体管部分的指令信号，并在改变所述指令信号之后测量传输的或反射的微波能量。

15.根据权利要求9所述的方法，进一步包括，使用所述传输的或反射的微波能量测量所述薄膜晶体管部分的微波能量频率响应。

16.根据权利要求15所述的方法，进一步包括，基于测量的所述薄膜晶体管部分的微波能量响应来检测所述薄膜晶体管部分是否可接受。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，如果确定所述薄膜晶体管部分可以接受用于组装成平板天线，则使用所述薄膜晶体管部分。