[发明专利]封闭盖的光学测量在审
申请号: | 201780024688.9 | 申请日: | 2017-04-19 |
公开(公告)号: | CN109153119A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | S·哈根斯 | 申请(专利权)人: | 希尔甘控股公司 |
主分类号: | B25J9/16 | 分类号: | B25J9/16;G01N21/88;G05B19/418 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 侯鸣慧 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学传感器 夹具 机器人 感测区域 测量对象 对象放置 光学测量 接收对象 放置面 封闭盖 | ||
本发明涉及用于光学地测量对象(12、14)的设备和方法。具有能运动的夹具(38)的机器人(34)接收对象(12、14)。位置固定的第一光学传感器(64)设置用于,求取所述对象的第一参数(OD、OV,…)。另外的位置固定的光学传感器(72、74、76)实现所述对象(12、14)的另外的参数(CP、CPA,…)的求取。所述机器人(34)将由所述夹具(38)接收的对象放置在所述第一光学传感器(64)的感测区域中的放置面(62)上。在这里,求取所述第一参数(OD),并且,所述机器人(34)使由所述夹具(38)接收的对象在所述另外的光学传感器(72、74、76)的另外的感测区域内部运动,以便求取所述另外的参数(CP、CPA,…)。
技术领域
本发明涉及用于光学地测量对象以便感测和/或检验参数、尤其光学地测量容器的作为对象的封闭盖的设备和方法。该盖具有不同的、对于封闭过程重要的参数,所述参数要被检验、至少要被感测。
优选使用根据本发明的设备和根据本发明的方法以在生产期间随机地检验食物容器的封闭盖的额定参数是否保持在允许的公差的框架内。封闭盖可以是旋开式封闭盖(凸块封闭盖)或者由优选金属制成的压紧旋开式封闭盖(PT式盖)。
然而,基本上,根据本发明的设备和根据本发明的方法也可以用于光学地测量其他盖或者其他小的对象,例如由塑料制成的封闭盖、垫圈、弹簧环、硬币或者铸币准备中的铸币毛坯。
背景技术
在制造玻璃食物容器的金属封闭盖、如旋开式封闭盖或者压紧旋开式封闭盖时,额定参数在根据相应的工厂技术规格所允许的公差的框架内的保持有重大意义。不保持额定参数可能导致,封闭盖在装上后不正确地封闭已填充的食物容器,这可能引起在容器中的食物污染或者变坏。
在旋开式封闭盖中的待检验的额定参数为:封闭盖的裙部的翻卷的下边缘的翻卷外直径和翻卷内直径、椭圆度、总高度、在封闭盖的上侧上的镜面(作为面板的盖镜面)的深度或者按钮的深度(按钮/镜面深度)、围绕按钮或者镜面的卷边的深度(卷边深度)、沿着翻卷的下边缘的凸块的高度、宽度、斜度和内直径(凸块高度、凸块宽度、凸块坡度和凸块内直径)以及沿着封闭盖的提高的密封凸缘的内周边的密封材料的厚度(复合体厚度)中的一个或多个。
在压紧旋开式封闭盖中,待检验的设定的参数为:翻卷外直径和翻卷内直径、总高度、按钮深度或者镜面深度、卷边深度以及沿着封闭盖的密封凸缘和裙部的内周边的两个位置上的复合体厚度、冠部外直径和卷曲外直径中的一个或多个。
目前,大部分这样检验额定参数的保持:从生产过程中取下单个盖并且借助于测量规尺或者其他触觉的测量装置手动地测量,以便求取相应的实际参数并且将所述实际参数与所配属的额定参数比较。但是,通过这类方法,旋开式封闭盖和压紧旋开式封闭盖的所有以上所提到的参数的求取非常费时和困难,另外因为为此必须使用不同的测量仪器并且将所述测量仪器从不同的侧或者沿不同的方向移近待测量的封闭盖。此外,检验结果经常不准确并且与检验人员有关。因此,一般而言,仅能够对来自生产过程的封闭盖的非常小的百分比检验额定尺寸的保持。如果在一批封闭盖中确定额定参数的不保持,那么通常必须清除掉整批。此外,经常不能手动地确定额定参数的较小偏差,以至于在盖的生产过程中不能及时采取相应措施。封闭盖的手动测量的实际参数的感测和存储也是费事的,从而例如(在容器的装灌之后的)密封问题的原因的事后追溯和分类大多是不可能的。
DE 10 2008 019 435 A1说明了一种用于无接触地测量三维的、复杂成形的构件的方法,在该方法中,构件被机器人的夹具抓住并且使其在多个光学传感器的感测区域中运动,所述光学传感器位置固定地布置并且所述光学传感器在不同的定向中记录或者拍摄构件,其中,随后对图像分析处理。
发明内容
由此出发,本发明以这样的任务为基础:提供一种设备或者一种方法,通过所述方法能够自动地实现,在存在多个对象的情况下,即使当待测量的实际参数位于所述对象中的每一个对象的不同的或者相反的侧或者位置上时,也通过测量所配属的实际参数以恒定的和高的精度检验额定参数的保持。
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