[发明专利]光学元件的制造方法有效
| 申请号: | 201780024114.1 | 申请日: | 2017-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN109071297B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
| 发明(设计)人: | 中川裕介;野濑卓 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号: | C03B11/08 | 分类号: | C03B11/08;C03B11/12 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;于洁 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 元件 制造 方法 | ||
一种光学元件成型模具,用于成型光学元件,其形成有在内部插入控制用温度传感器(41a,41b)和测定用温度传感器(42a,42b)的温度传感器插入孔(113,114,123,124),温度传感器插入孔(113,114,123,124)配置在相对于光学元件成型模具的中心轴C旋转对称的位置。
技术领域
本发明涉及用于成型光学元件的光学元件成型模具。
背景技术
作为光学元件的制造方法,已知有下述的方法:将光学元件材料配置在成型模具之间,通过加热、挤压而成型为所期望形状的光学元件。在这样的光学元件的成型中,作为用于制造偏差小的光学元件的条件之一,可以举出高精度地进行成型模具的温度控制。
例如,在专利文献1中记载了一种光学元件的制造装置,其中,在成型模具的内部插入热电偶,一边利用该热电偶进行温度控制一边对成型模具进行加热。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2004-137146号公报
发明内容
发明所要解决的课题
上述现有的光学元件的制造装置中,需要在一次成型中将成型模具的温度从常温升温至成型温度、且从成型温度降温至冷却温度,成型模具的升降温需要一定的时间。并且,光学元件的尺寸(=成型模具的尺寸)越大,这样的升降温所需要的时间越长。因此,在现有的光学元件的制造装置的情况下,需要根据所需的生产数量利用2个以上的成型模具成型出具有相同光学性能(形状)的光学元件。
但是,对于在成型模具的温度控制中使用的温度传感器(例如热电偶、铂测温电阻体)来说,存在将其制造误差考虑在内的允差。例如在温度为500℃的情况下,在热电偶(K型、E型、T型,等级1)中存在±2℃的允差,在铂测温电阻器(Pt100)中存在±2.8℃的允差(参见JIS标准“JIS C 1602”和“JIS C 1604”)。这样,即使为规格上相同的温度传感器,实际上在各传感器中也存在个体差异。
因此,在现有的光学元件的制造装置中,即使利用热电偶将2个以上的成型模具控制为相同的温度,由于上述温度传感器的个体差异,实际上也不会成为相同的温度条件,具有光学元件的成品(例如光学功能面的形状)在2个以上的成型模具间产生偏差的问题。
本发明是鉴于上述情况而进行的,其目的在于提供一种光学元件成型模具,其能够防止在2个以上的成型模具间产生光学元件的成品的偏差、能够稳定地制造具有所期望的光学性能的光学元件。
用于解决课题的手段
为了解决上述课题而达成目的,本发明的光学元件成型模具的特征在于,在用于成型光学元件的光学元件成型模具中,至少形成2个在内部插入温度传感器的温度传感器插入孔,上述温度传感器插入孔配置在相对于上述光学元件成型模具的中心轴旋转对称的位置。
另外,本发明的光学元件成型模具的特征在于,在上述发明中,上述温度传感器为热电偶或铂测温电阻器。
发明效果
根据本发明,通过将控制用温度传感器和测定用温度传感器分别插入到温度传感器插入孔中,利用同一测定用温度传感器对基于各个控制用温度传感器进行了加热的光学元件成型模具的温度进行测定,能够掌握2个以上的光学元件成型模具间的控制用温度传感器的个体差异。并且,在对光学元件进行成型时,通过基于上述个体差异来校正利用控制用温度传感器进行温度控制时的设定温度,能够使2个以上的光学元件成型模具间的温度条件一致。因此,能够防止在2个以上的光学元件成型模具间产生光学元件的成品的偏差、能够稳定地制造具有所期望的光学性能的光学元件。
附图说明
图1是示出具备本发明的实施方式的光学元件成型模具的光学元件成型装置的构成的截面图。
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