[发明专利]光源装置以及投光装置

说明书

光源装置(101)，具备：射出激光的半导体发光装置(1)；波长转换部件(4)，从半导体发光装置(1)射出的激光作为激励光照射到波长转换部件(4)，从而放出荧光；以及光检测器(7)，从波长转换部件(4)放出的光的一部分入射到光检测器(7)，光检测器(7)，被配置在从由波长转换部件(4)向空间放出的光之中的作为照明光利用的放射利用光的光程偏离的位置。

技术领域

本公开涉及，光源装置以及投光装置，尤其涉及，利用将从半导体发光装置射出的光照射到波长转换部件而从波长转换部件放出的光的、投影显示装置等的显示器领域、或者车辆用照明、产业用照明、以及医疗用照明等的照明领域所利用的光源装置以及利用了该光源装置的投光装置。

背景技术

在利用由半导体激光器等的半导体发光元件构成的半导体发光装置的光源装置以及投光装置中，为了使高光通量的光放出，而需要高效率地利用因半导体发光装置的光照射而从波长转换部件放出的光。

作为这种投光装置，专利文献1公开，利用半导体激光器元件以及荧光体的发光装置。利用图41说明专利文献1所公开的以往的发光装置1001。

图41是用于说明以往的发光装置1001的结构的图。

如图41示出，以往的发光装置1001具备，将激光振荡的半导体激光器元件1002、将从半导体激光器元件1002振荡的激光的至少一部分转换为非相干的光的荧光体1004、使从荧光体1004放出的光反射的反射板1005、以及抑制相干的激光向外部射出的安全装置(光检测器1011，控制部1009)。

从半导体激光器元件1002射出的蓝光的激光，由荧光体1004波长转换为波长比500nm大的光，并放出。此时，会有荧光体1004受损伤或脱落，从而荧光体1004发生异常劣化的情况。在此情况下，也会有发生例如激光直接向外部射出的状态等的光转换异常的情况。于是，在图41所示的以往的发光装置1001中，在因荧光体1004发生异常劣化而导致的功率降低由光检测器1011检测的情况下，停止半导体激光器元件1002的输出。具体而言，在由控制部1009，判断为受光元件1008的输出值为规定值以下的情况下，控制部1009，使半导体激光器元件1002的驱动停止。据此，能够抑制激光向外部射出。

并且，专利文献2提出，在将半导体激光器元件用于光源的车辆用前照灯中，在照明光的光程配置反射器的反射面，使由该反射面反射的照明光的一部分入射到光检测单元，控制半导体激光器元件的装置。根据该装置，在用于将激光波长转换的部件脱落的情况下，能够以不发出激光的方式控制半导体激光器元件。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1：日本特开2011-66069号公报

专利文献2：日本特开2014-180886号公报

然而，在以往的投光装置(例如专利文献1或专利文献2)中，为了将光引导到光检测器而设置的反射部件或光检测器本身，被配置在作为照明光有效的光通过的区域，因此，导致光学效率的损失。其结果为，投光装置的光通量降低，照明光的照射区域中发生光强度不均匀。

并且，根据以往的投光装置(例如专利文献1或专利文献2)的结构，外部环境的光容易入射到光检测器，难以由光检测器准确地检测因波长转换部件(荧光体等)的异常劣化而导致的光转换异常。

发明内容

为了解决这样的问题，本公开的目的在于，提供能够由光检测器准确地检测波长转换部件的异常劣化，并且，即使利用光检测器也能够抑制因光检测器而在照明光的照射区域产生光强度不均匀的光源装置以及投光装置。