[发明专利]光源装置以及投光装置

权利要求书

1.一种光源装置，具备：

半导体发光装置，射出激光；

波长转换部件，从所述半导体发光装置射出的激光作为激励光照射到该波长转换部件，从而放出荧光；以及

光检测器，从所述波长转换部件放出的光的一部分入射到该光检测器，

所述光检测器，被配置在从放射利用光的光程偏离的位置，所述放射利用光是从所述波长转换部件向空间放出的光之中的作为照明光利用的光。

2.如权利要求1所述的光源装置，

所述光源装置，还具备第一反射部件，

所述第一反射部件，使从所述波长转换部件放出的光之中的不会作为照明光利用的光的一部分，反射向与所述放射利用光行进的方向远离的方向，

由所述第一反射部件反射的光入射到所述光检测器。

3.如权利要求1或2所述的光源装置，

在所述放射利用光的光程设置有透光部件。

4.如权利要求2所述的光源装置，

在所述放射利用光的光程设置有透光部件，

所述透光部件作为所述第一反射部件发挥功能。

5.如权利要求3或4所述的光源装置，

所述光源装置，还具备支撑部件，

所述支撑部件支撑所述波长转换部件，

所述透光部件堵塞所述支撑部件的开口。

6.如权利要求1至4的任一项所述的光源装置，

所述光源装置，还具备支撑部件，

所述支撑部件支撑所述波长转换部件，

所述半导体发光装置以及所述光检测器，被配置在安装在所述支撑部件的电路板。

7.如权利要求5或6所述的光源装置，

在所述支撑部件，设置有向所述光检测器入射的光通过的开口部。

8.如权利要求7所述的光源装置，

在所述支撑部件，设置有与所述开口部连通的凹处，

所述光检测器，被配置在所述凹处。

9.如权利要求8所述的光源装置，

在所述凹处中，在与所述光检测器相比接近所述半导体发光装置的位置配置有温度检测元件。

10.如权利要求6所述的光源装置，

安装所述半导体发光装置以及所述光检测器的所述电路板是，同一电路板，

在所述同一电路板安装有控制部，该控制部根据入射到所述光检测器的光的强度对所述半导体发光装置进行控制。

11.如权利要求10所述的光源装置，

所述控制部，取消基于环境温度的所述半导体发光装置的光输出变化，根据所述光检测器的输出的变化率的变动检测所述波长转换部件的异常劣化。

12.如权利要求10所述的光源装置，

从所述半导体发光装置射出的由所述波长转换部件反射的激光之中的无用光入射到所述光检测器，

所述控制部，根据来自所述光检测器的信号检测所述波长转换部件的异常劣化。

13.如权利要求1至12的任一项所述的光源装置，

向与所述放射利用光行进的方向远离的方向行进的光入射到所述光检测器。

14.如权利要求13所述的光源装置，

所述光源装置，还具备第二反射部件，

所述第二反射部件，使从所述半导体发光装置射出的激光反射，

所述波长转换部件，使所述放射利用光从由所述第二反射部件反射的激光入射的面放出。

15.如权利要求1至12的任一项所述的光源装置，

所述波长转换部件，使所述放射利用光从与所述激光入射的面相反侧的面放出。