[发明专利]水质分析仪有效
| 申请号: | 201780003869.3 | 申请日: | 2017-02-23 |
| 公开(公告)号: | CN108351304B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
| 发明(设计)人: | 长谷川祥树;小泉和裕 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/47;G01N33/18 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 水质 分析 | ||
利用简易的结构来兼具荧光检测功能和散射光检测功能,高精度地测定试样水的荧光强度。水质分析仪(1)具有:激发光照射光学系统(10),其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光(L1);荧光检测光学系统(21),其对通过激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光(L2)进行检测;散射光照射光学系统(30),其向试样水照射散射光检测用的光源光(L3);以及散射光检测光学系统(40),其对因所照射的散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光(L4)进行检测。能够检测激发光照射光学系统的光量和散射光照射光学系统的光量。
技术领域
本发明涉及一种对作为测定对象的试样水的成分进行测定的水质分析仪。
背景技术
一般来说,在使用荧光检测的原理的水质分析仪中,已知如下一种水质分析仪:对通过激发出测定对象的试样水中的特定成分而产生的荧光进行检测,来对试样水进行水质分析。该水质分析仪向试样池中的试样水照射从光源发出的激发光,特定成分被激发,使由于激发而放出的荧光通过光学滤波器来取出特定波长的光,将特定波长的光导入到荧光检测器来进行荧光检测。在这种水质分析仪中,为了防止从光源发出的光被直接导入到检测器,将从光源向试样池的照射系统的光路与从试样池向检测器的检测系统的光路配置成垂直相交(例如,参照专利文献1)。
专利文献1:日本特开平8-145889号公报
发明内容
另外,已知当试样水浑浊(浊度高)时试样水中的成分中的荧光强度衰减,需要测定浊度以高精度地测定试样水的荧光强度。在利用散射光检测的原理的浊度计中,向收容有测定对象的试样水的试样池照射从光源发出的特定波长的光,利用散射光检测器来检测因试样水所包含的作为悬浮物质的微粒而产生的散射光,来测定浊度。
近年来,对兼具荧光检测功能和散射光检测功能以同时测定试样水的荧光强度和浊度的水质分析仪的需求正在升高。在将荧光检测功能和散射光检测功能复合而成的水质分析仪中,需要具备激发用的光源及检测器、散射光检测用的光源及检测器。另外,为了水质分析仪的稳定测定,期望对各个光源的光量的下降进行监视。
然而,这种水质分析仪当追加附加性功能时结构变得复杂。例如,在将荧光检测功能和散射光检测功能复合而成的水质分析仪中,为了测定各光源的光量,需要针对各个光源具备光量检测器,存在结构复杂化的问题。
本发明是鉴于这种问题而完成的,其目的在于提供如下一种水质分析仪:能够利用简易的结构来兼具荧光检测功能和作为附加性功能的散射光检测功能,从而高精度地测定试样水的荧光强度。
本发明的水质分析仪的特征在于,具有:激发光照射光学系统,其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光;荧光检测光学系统,其对通过所述激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光进行检测;散射光照射光学系统,其向试样水照射散射光检测用的光源光;以及散射光检测光学系统,其对因所照射的所述散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光进行检测,所述水质分析仪能够检测激发光照射光学系统的光量和散射光照射光学系统的光量。
本发明的水质分析仪的特征在于,具有:激发光照射光学系统,其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光;荧光检测光学系统,其对通过所述激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光进行检测;散射光照射光学系统,其向试样水照射散射光检测用的光源光;以及散射光检测光学系统,其对因所照射的所述散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光进行检测,所述水质分析仪被配置成:所述荧光检测光学系统能够检测所述散射光照射光学系统的光量、且所述散射光检测光学系统能够检测所述激发光照射光学系统的光量。
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