[发明专利]水质分析仪有效
| 申请号: | 201780003869.3 | 申请日: | 2017-02-23 |
| 公开(公告)号: | CN108351304B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
| 发明(设计)人: | 长谷川祥树;小泉和裕 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/47;G01N33/18 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 水质 分析 | ||
1.一种水质分析仪,其特征在于,具有:
激发光照射光学系统,其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光;荧光检测光学系统,其对通过所述激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光进行检测;散射光照射光学系统,其向试样水照射散射光检测用的光源光;以及散射光检测光学系统,其对因所照射的所述散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光进行检测,
所述水质分析仪被配置成:所述荧光检测光学系统能够检测所述散射光照射光学系统的光量、且所述散射光检测光学系统能够检测所述激发光照射光学系统的光量,
其中,所述激发光照射光学系统的光轴与所述荧光检测光学系统的光轴的第一交点同所述散射光照射光学系统的光轴与所述散射光检测光学系统的光轴的第二交点在试样水流通容器内相离,所述第一交点与所述第二交点之间的距离是由所述激发光照射光学系统的光轴与所述荧光检测光学系统的光轴形成的平面与由所述散射光照射光学系统的光轴与所述散射光检测光学系统的光轴形成的平面之间的距离,
所述散射光照射光学系统的光源光中的、透过所述试样水而形成的透过光被导入到在所述荧光检测光学系统的受光面上离开所述荧光检测光学系统的光轴的位置,
所述激发光照射光学系统的光源光中的、透过所述试样水而形成的透过光被导入到在所述散射光检测光学系统的受光面上离开所述散射光检测光学系统的光轴的位置。
2.根据权利要求1所述的水质分析仪,其特征在于,
所述激发光照射光学系统与所述散射光检测光学系统隔着试样水流通容器地相向,所述散射光照射光学系统与所述荧光检测光学系统隔着所述试样水流通容器地相向。
3.根据权利要求2所述的水质分析仪,其特征在于,
在所述试样水流通容器内的中心,所述激发光照射光学系统的光轴与所述荧光检测光学系统的光轴垂直地交叉,所述散射光照射光学系统的光轴与所述散射光检测光学系统的光轴垂直地交叉。
4.根据权利要求1所述的水质分析仪,其特征在于,
所述第一交点与所述第二交点之间的距离大于0mm且为10mm以下。
5.根据权利要求1所述的水质分析仪,其特征在于,
具有预测部,该预测部根据所述激发用的光源光透过试样水而形成的第一透过光来计算所述激发用的光源光的第一波长下的试样水的吸光度,根据所述散射光检测用的光源光透过试样水而形成的第二透过光来计算所述散射光检测用的光源光的第二波长下的试样水的吸光度,根据所述第一波长及所述第二波长下的试样水的吸光度来预测所述荧光的第三波长下的试样水的吸光度。
6.根据权利要求5所述的水质分析仪,其特征在于,
根据所述第一波长及所述第二波长下的试样水的吸光度的绝对值和比率来预测所述第三波长下的试样水的吸光度。
7.一种水质分析仪,其特征在于,具有:
激发光照射光学系统,其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光;荧光检测光学系统,其对通过所述激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光进行检测;散射光照射光学系统,其向试样水照射散射光检测用的光源光;以及散射光检测光学系统,其对因所照射的所述散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光进行检测,
所述水质分析仪能够检测所述激发光照射光学系统的光量和所述散射光照射光学系统的光量,
所述水质分析仪还具有:
透过光检测光学系统,其对所述激发用的光源光透过试样水而形成的第一透过光以及所述散射光检测用的光源光透过试样水而形成的第二透过光进行检测;
预测部,其根据所述第一透过光来计算所述激发用的光源光的第一波长下的试样水的吸光度,根据所述第二透过光来计算所述散射光检测用的光源光的第二波长下的试样水的吸光度,根据所述第一波长及所述第二波长下的试样水的吸光度来预测所述荧光的第三波长下的试样水的吸光度;以及
配置于将所述激发用的光源光和所述散射光检测用的光源光向试样水流通容器引导的位置的光学构件,所述光学构件与所述透过光检测光学系统隔着所述试样水流通容器地相向,所述激发光照射光学系统配设在所述光学构件的侧方。
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