[发明专利]用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台

说明书

本发明公开了一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台，包括：基座，该基座上设有向上凸起的连接部及用于放置待测元器件的载物台；以及根部与连接部相铰接的盖板，盖板上开设有贯穿其上下表面的让位孔，其中，盖板可绕连接部在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台上的待测元器件选择性地压紧，当盖板将放置于载物台上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔。根据本发明，其通过提高测试过程密封性来提高测试异形元器件高压水密性功能测试的成功率，此外还能能提高测试效率及测试精确度，具有较广阔的应用前景。

技术领域

本发明涉及元器件高压水密性功能测试领域，特别涉及一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台。

背景技术

对于一些元器件，往往在生产完成后至出厂前，需要对其进行高压下的水密性功能测试，例如测试一些力学性能及电学性能是否满足设计需求及产品质量要求。

在现有的元器件高压水密性功能测试仪的载台中，大多数仅仅能够针对于外形结构简单、规范的元器件，而对一些外形结构复杂、形状不唯一的异性元器件来说，往往面临在测试过程中出现由于密封性较差导致的测试失败。

有鉴于此，实有必要开发一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台，用以解决上述问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台，其通过提高测试过程密封性来提高测试异形元器件高压水密性功能测试的成功率，此外还能能提高测试效率及测试精确度，具有较广阔的应用前景。

为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台，包括：

基座，该基座上设有向上凸起的连接部及用于放置待测元器件的载物台；以及

根部与连接部相铰接的盖板，盖板上开设有贯穿其上下表面的让位孔，

其中，盖板可绕连接部在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台上的待测元器件选择性地压紧，当盖板将放置于载物台上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔。

优选的是，载物台上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽。

优选的是，容纳槽的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，检测通孔中嵌设有探针。

优选的是，容纳槽上设有覆盖有密封组件，该密封组件包括：

密封板；以及

设于密封板与载物台之间的顶部密封圈，

其中，密封板中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔，顶部密封圈环绕地设置于容纳槽的外周，密封通孔分别与让位孔及及容纳槽相互连通。

优选的是，密封通孔的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈，密封板、顶部密封圈及缓冲圈三者全部一体式地结合成统一整体。

优选的是，基座的旁侧还设有用于将盖板选择性压紧的压紧组件，该压紧组件与盖板的端部相对设置。

优选的是，压紧组件包括：

固定座；

根部与固定座转动连接的转轴；以及

与转轴的顶部相固接的压板，

其中，压板呈L字形结构。

优选的是，盖板的端部上表面设有一向下倾斜的引导斜面。

优选的是，基座的底部嵌设有底部密封圈，该底部密封圈环绕地设置于检测通孔的外周。

本发明与现有技术相比，其有益效果是：