[发明专利]用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台

权利要求书

1.一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台(4)，其特征在于，包括：

基座(41)，该基座(41)上设有向上凸起的连接部(411)及用于放置待测元器件的载物台(412)；以及

根部与连接部(411)相铰接的盖板(42)，盖板(42)上开设有贯穿其上下表面的让位孔(422)，

其中，盖板(42)可绕连接部(411)在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台(412)上的待测元器件选择性地压紧，当盖板(42)将放置于载物台(412)上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔(422)；载物台(412)上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽(4122)；容纳槽(4122)的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针(44)；容纳槽(4122)上设有覆盖有密封组件(45)，该密封组件(45)包括：

密封板(451)；以及

设于密封板(451)与载物台(412)之间的顶部密封圈(452)，

其中，密封板(451)中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔(454)，顶部密封圈(452)环绕地设置于容纳槽(4122)的外周，密封通孔(454)分别与让位孔(422)及容纳槽(4122)相互连通；基座(41)的底部嵌设有底部密封圈(46)，该底部密封圈(46)环绕地设置于检测通孔的外周；密封通孔(454)的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈(453)，密封板(451)、顶部密封圈(452)及缓冲圈(453)三者全部一体式地结合成统一整体。

2.如权利要求1所述的用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台(4)，其特征在于，基座(41)的旁侧还设有用于将盖板(42)选择性压紧的压紧组件(43)，该压紧组件(43)与盖板(42)的端部相对设置。

3.如权利要求2所述的用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台(4)，其特征在于，压紧组件(43)包括：

固定座(431)；

根部与固定座(431)转动连接的转轴(433)；以及

与转轴(433)的顶部相固接的压板(432)，

其中，压板(432)呈L字形结构。

4.如权利要求3所述的用于异形元器件高压水密性功能测试仪的载台(4)，其特征在于，盖板(42)的端部上表面设有一向下倾斜的引导斜面(421)。