[实用新型]一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡有效
| 申请号： | 201721692563.7 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN207457438U | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 刘玉静 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 刘晓政 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 焊盘 测试板卡 上端 测试点 内存芯片 位置相对 信号完整性测试 本实用新型 完整性测试 数量相等 相应区域 芯片信号 便利性 下端 投影 | ||
1.一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：包括测试板卡本体（1），测试板卡本体（1）为PCB板；
测试板卡本体（1）的上端面上设有一组第一焊盘PAD（3），测试板卡本体（1）的下端面上设有一组第二焊盘PAD（9），第一焊盘PAD（3）与待测内存芯片上的焊盘PAD数量相等且位置相对，第一焊盘PAD（3）和第二焊盘PAD（9）数量相等且位置相对，位置相对的第一焊盘PAD（3）和第二焊盘PAD（9）分别相连；
测试板卡本体（1）的上端面的面积，大于上述待测内存芯片在其各焊盘PAD与上述相应第一焊盘PAD（3）的位置相对时在上述测试板卡本体（1）的上端面上的投影的面积；
测试板卡本体（1）的上端面上还设有一组测试点（2），每个测试点（2）各自对应不同的第一焊盘PAD（3），各测试点（2）分别与其对应的第一焊盘PAD（3）相连；
各测试点（2）均位于S区域（4）外；所述的S区域（4）为上述待测内存芯片在其各焊盘PAD与上述相应第一焊盘PAD（3）的位置相对时，在上述测试板卡本体（1）上端面上的投影所对应测试板卡本体（1）上端面上的相应区域。
2.根据权利要求1所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述的待测内存芯片为DDR芯片颗粒。
3.根据权利要求2所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述的待测内存芯片为DDR3芯片颗粒或DDR4芯片颗粒。
4.根据权利要求1-3任一项所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述的测试点（2）分置于上述S区域（4）的一组位置相对的两侧。
5.根据权利要求4所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：S区域（4）的另一组位置相对的两侧各自设有一条形孔，两条形孔的孔长方向均沿S区域（4）的相应边沿分布，该两个条形孔各自的孔长度均等于其对应上述待测内存芯片的相应边的边长度；两个条形孔内各自配设有用于定位待测内存芯片的插板。
6.根据权利要求5所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述插板的高度为上述待测内存芯片的厚度及所述测试板卡本体（1）的厚度之和。
7.根据权利要求5所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述插板的厚度，对应等于其各自对应的条形孔的孔宽度。
8.根据权利要求1-3任一项所述的用于内存芯片信号完整性测试的测试板卡，其特征在于：所述的测试点（2）分别为金属层测试点。
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