[实用新型]一种晶片电阻率检测装置

说明书

本实用新型公开了一种晶片电阻率检测装置，包括壳体，所述壳体的内壁通过第一转动件转动连接有横向设置的第一螺纹杆，且第一螺纹杆贯穿壳体的一侧侧壁设置，所述第一螺纹杆的侧壁套设有两个第一斜齿轮，所述壳体的上端内壁通过第二转动件转动连接有两个竖直设有第二螺纹杆，且两个第二螺纹杆分别位于第一斜齿轮的上方，两个所述第二螺纹杆远离第二转动件的一端均设有与第一斜齿轮匹配的第二斜齿轮，两个所述第二螺纹杆的侧壁均套设有与其匹配的螺母，两个所述螺母之间设有检测台，所述壳体的上端侧壁设有与检测台匹配的开口，本实用新型可在密封环境下检测电阻率，提高准确性。

技术领域

本实用新型涉及电阻率检测技术领域，尤其涉及一种晶片电阻率检测装置。

背景技术

晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的发光部件，LED最核心的部分，晶片的好坏将直接决定LED的性能，晶片是由是由Ⅲ和Ⅴ族复合半导体物质构成，在晶片出厂之前都要进行电阻率检测，目前的检测都是通过检测装置直接在外界环境下检测，未考虑到空气湿度、温度、空气杂质对电阻率的影响，因此检测结果具有一定的局限性，为此，我们提出一种晶片电阻率检测装置来解决上述问题。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中目前的检测都是通过检测装置直接在外界环境下检测，未考虑到空气湿度、温度、空气杂质对电阻率的影响，因此检测结果具有一定的局限性问题，而提出的一种晶片电阻率检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种晶片电阻率检测装置，包括壳体，所述壳体的内壁通过第一转动件转动连接有横向设置的第一螺纹杆，且第一螺纹杆贯穿壳体的一侧侧壁设置，所述第一螺纹杆的侧壁套设有两个第一斜齿轮，所述壳体的上端内壁通过第二转动件转动连接有两个竖直设有第二螺纹杆，且两个第二螺纹杆分别位于第一斜齿轮的上方，两个所述第二螺纹杆远离第二转动件的一端均设有与第一斜齿轮匹配的第二斜齿轮，两个所述第二螺纹杆的侧壁均套设有与其匹配的螺母，两个所述螺母之间设有检测台，所述壳体的上端侧壁设有与检测台匹配的开口，所述壳体的上端侧壁还设有两个滑槽，且两个滑槽分别位于开口的两侧，两个所述滑槽均通过滑块滑动连接有封闭板，且两个封闭板位于开口的上方，所述壳体的一侧内壁设有温度控制器，所述壳体的另一侧内壁真空泵，且真空泵贯穿壳体的侧壁设置。

优选的，所述第一螺纹杆贯穿壳体处套设有密封圈。

优选的，所述第一螺纹杆为中空结构，所述第一螺纹杆中设有两个平行设置的拨片，且拨片贯穿第一螺纹杆的一端侧壁设置，两个所述拨片之间通过预设数量的弹簧连接，两个所述拨片远离弹簧的一侧侧壁均设有预设数量的卡杆，且卡杆贯穿第一螺纹杆的侧壁设置，所述壳体的侧壁设有预设数量的与卡杆匹配的卡槽。

优选的，所述第一螺纹杆上包裹有海绵保护套。

优选的，两个所述第一斜齿轮在第一螺纹杆上同向设置。

本实用新型通过将检测台收入壳体中，并将壳体密封起来，使检测台与外界环境隔绝，降低了外界因素对晶片电阻率的影响，提高检测的准确性。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种晶片电阻率检测装置的结构示意图；

图2为图1中A处的结构示意图。

图中：1壳体、2第一转动件、3第一螺纹杆、4第一斜齿轮、5第二转动件、6第二螺纹杆、7第二斜齿轮、8螺母、9检测台、10开口、11滑槽、12滑块、13封闭板、14温度控制器、15真空泵、16拨片、17弹簧、18卡杆、19卡槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。