[实用新型]一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台有效

专利信息
申请号: 201721415803.9 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN207439976U 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 姚雷;郑芳;徐长征 申请(专利权)人: 宝钢特钢有限公司
主分类号: G01N23/2204 分类号: G01N23/2204
代理公司: 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 代理人: 刘立平
地址: 200940 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 样品台 电子探针 本实用新型 大尺寸试样 插片 水平插片 分析 装载 空间利用率 定位撑脚 螺丝固定 水平基座 组织分析 可调节 上表面 下表面 可用 对称 稳固 配合
【权利要求书】:

1.一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台,包括样品台基座(1),其特征如下所述:

所述的样品台基座(1)其具体为一上、下表面均为长方形的水平基座,在该样品台基座的上表面的两侧各设置有呈相对且对称的试样插片台(2),而在样品台基座的底部设置有定位撑脚(3);

所述的试样插片台(2)内设置有可调节高度的水平插片(4),将试样(5)置于该水平插片上,电子探针再对试样进行组织分析。

2.如权利要求1所述的一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台,其特征在于,所述的试样插片台(2)其具体为一垂直状台座,在两处试样插片台的相对的内侧面上呈等间隔的由上至下顺序设置有5~8组横向凸台(2a)和横向凹槽(2b),水平插片(4)则从水平方向插入两处试样插片台的等高度位置的横向凹槽,通过调节水平插片的不同插入高度,将置于水平插片上的不同大小试样(5)获得适合的电子探针的扫描分析工作距离。

3.如权利要求2所述的一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台,其特征在于,所述的横向凸台(2a)和横向凹槽(2b)其具体尺寸为,横向凸台的厚度为2mm,横向凹槽的凹槽宽度为2mm,横向凸台与横向凹槽配合形成一个4mm的高度周期,即整个试样插片台(2)的高度为20mm~32mm。

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