[实用新型]集成电路封装件及封装基板有效
申请号: | 201721399278.6 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN207611749U | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 欧宪勋;程晓玲;罗光淋 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/528 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装结构 集成电路封装件 封装基板 上层 下层 非导电粘接剂 封装集成电路 本实用新型 焊垫 内埋 腔体 电磁环境 机械结构 收纳 封装件 固定的 内嵌 封装 体内 暴露 | ||
1.一种封装基板,其特征在于所述封装基板包括:
上层封装结构,其中所述上层封装结构包括:
第一非导电材料层;
第一线路层,位于所述第一非导电材料层的上表面上;
第二线路层,位于所述第一非导电材料层的下表面;
第二非导电材料层,位于所述第二线路层的下表面上;
第三线路层,位于所述第二非导电材料层的下表面上;以及
腔体,贯穿所述上层封装结构的上表面至所述腔体的下表面;以及
下层封装结构,所述上层封装结构与所述下层封装结构之间由非导电粘接剂固定,其中所述下层封装结构包括:
第三非导电材料层,其上设有连接孔以将所述第三线路层的引脚暴露于所述连接孔;
第四线路层,位于所述第三非导电材料层的顶侧;所述第三非导电材料层的上表面与所述第四线路层的上表面粘接于所述第三线路层的下表面;且所述第四线路层上设有用于与待封装集成电路元件电性连接的焊垫,所述焊垫的上表面暴露于所述腔体内;以及
第五线路层,位于所述第三非导电材料层的底侧,且与所述第三线路层的引脚在所述连接孔内电性连接。
2.根据权利要求1所述的封装基板,其特征在于所述第一线路层与所述第二线路层之间的导通结构覆盖所述腔体的内壁。
3.根据权利要求1所述的封装基板,其特征在于所述腔体的纵截面呈自上而下宽度逐渐收窄的梯形。
4.根据权利要求1所述的封装基板,其特征在于所述第二线路层与所述第三线路层之间的导通结构是盲孔、填满的通孔、导通柱或是筛孔导通结构。
5.根据权利要求1所述的封装基板,其特征在于所述第四线路层具有接地结构。
6.根据权利要求1所述的封装基板,其特征在于所述第四线路层内埋于所述第三非导电材料层。
7.一种集成电路封装件,其特征在于所述集成电路封装件包括:
如权利要求1-6中任一项所述的封装基板;以及
集成电路元件,内嵌于所述封装基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造