[实用新型]一种具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统有效

专利信息
申请号: 201721306854.8 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN207216273U 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 李喜玲;郭党委;毕四军 申请(专利权)人: 兰州大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 北京中恒高博知识产权代理有限公司11249 代理人: 乔会霞
地址: 730030 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 定位 装置 电子束 曝光 样品 系统
【权利要求书】:

1.一种具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统,包括样品台主体,其特征在于,所述样品台主体上设有至少一个套刻区域,所述套刻区域均包括套刻样品和定位装置,所述定位装置包括至少一个水平设置的套刻定位槽,将套刻样品的长边与套刻定位槽对齐,再进行套刻。

2.根据权利要求1所述的具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统,其特征在于,所述套刻定位槽为两个,且两个套刻定位槽平行设置,所述两个套刻定位槽之间的距离为1-3mm。

3.根据权利要求1或2所述的具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统,其特征在于,所述套刻区域为三个,所述套刻区域还包括均匀分布的螺丝孔,所述螺丝孔用于固定压紧套刻样品的压片。

4.根据权利要求1或2所述的具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统,其特征在于,所述样品台主体还包括校正区域,所述校正区域包括棋盘格样品和校正定位装置。

5.根据权利要求4所述的具有定位装置的电子束曝光机样品套刻系统,其特征在于,所述校正定位装置包括若干直线型凹槽,直线型凹槽的右端均相互连通设置,且所述凹槽成顺时针方向排列设置,其中一个凹槽为水平设置。

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