[实用新型]一种曝光机有效

专利信息
申请号: 201721282428.5 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN207181952U 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 张康;渠谦;卢兵;徐钟国;房晓梅 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02F1/13;G02F1/1335;G02F1/1343
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 曝光
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及半导体工艺技术领域,尤指一种曝光机。

背景技术

随着显示技术的不断发展,显示屏或触摸屏已经广泛应用于人们的生活中,其中,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点,在市场中占据重要地位。有机电致发光器件(Organic Light-Emitting Diode,OLED)具有自发光、反应快、视角广、亮度高、色彩艳、轻薄等优点,也已经被广泛应用于市场中。

在制造平板显示的黄光制程中,图案的尺寸受掩膜版(Mask),光刻胶厚度,烘烤时间,温度,浓度以及显影时间等多种因素影响,因此,实际形成的图案的线宽与设计的线宽存在一定的偏差,例如,对于同一张基板,虽然掩膜版上不同位置的线宽一样,但实际得到的图案的线宽是不一样的。偏差太大会导致后续检测困难,以及出货品质的不稳定,甚至会导致产品报废。

在工艺中对线宽都有一个公差范围,随着高分辨率的发展,世面上2K,4K,8K屏幕越来越多,对线宽的要求越来越高,设计公差越来越小,很多时候达到这个公差很困难。

现有技术中,现最常用的方法是在掩膜版上进行补正,但当工艺参数及设备能力变化时,补正量也会变化,而且,烘烤时间,温度,浓度和显影时间等因素会随时间及环境等因素变化,可控性较低,也会导致补正量发生变化,这时就需要重新制作掩膜版,经济成本及时间成本都较高,并且灵活性太差。此外,掩膜版一旦制造完成,补偿值就确定了,如果其它因素的影响下,补偿量发生变化,需要重新制作掩膜版。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种曝光机,用以解决现有技术中存在的不能对曝光量进行合理补偿的问题。

发明实施例提供了一种曝光机,包括:光源,掩膜版,以及位于所述光源和所述掩膜版之间的光强调节器;其中,

所述光强调节器,用于调节所述光源射向所述掩膜版上不同位置处的光线的光强。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,所述光强调节器,包括:第一透明基板,位于所述第一透明基板远离所述光源一侧的第二透明基板,位于所述第一透明基板和所述第二透明基板之间的液晶层,以及用于调节所述液晶层上不同位置处的光透过率的控制单元;

所述第一透明基板远离所述液晶层的一侧设有第一偏光层;

所述第二透明基板远离所述液晶层的一侧设有第二偏光层;

所述第一偏光层与所述第二偏光层的光轴相互垂直。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,所述控制单元,包括:位于所述第一透明基板与所述第一偏光层之间的第一透明电极层,位于所述第二透明基板与所述第二偏光层之间的第二透明电极层,以及信号源;其中,

所述第一透明电极层,包括:多个第一透明电极;各所述第一透明电极分别通过导线与所述信号源连接;

所述第二透明电极层,包括:多个与所述第一透明电极一一对应的第二透明电极;各所述第二透明电极分别通过导线与所述信号源连接。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,所述第一透明电极与对应的所述第二透明电极形状一致。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,各所述第一透明电极为并排设置的条状电极。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,各所述第一透明电极为呈阵列排布的块状电极。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,所述光强调节器,还包括:位于所述第二偏光层与所述掩膜版之间的第一准直元件。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,还包括:位于所述光源与所述光强调节器之间的第二准直元件。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,还包括:位于所述掩膜版远离所述光强调节器一侧的成像元件。

在一种可能的实现方式中,在本实用新型实施例提供的上述曝光机中,所述曝光机为投影式曝光机。

本实用新型有益效果如下:

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