[实用新型]用于确定储罐中的物品的填充料位的雷达料位计系统

说明书

一种用于确定储罐中的物品的填充料位的雷达料位计系统，包括：收发器；多导体探针，包括一起从上部探针端延伸至下部探针端的第一探针导体和第二探针导体；沿着多导体探针分布的多个间隔件装置；以及用于确定填充料位的处理电路系统。多个间隔件装置中的每个间隔件装置包括：第一间隔件构件，被配置成将发射信号反射为具有第一幅度的第一间隔件反射信号；和第二间隔件构件，被配置成将发射信号反射为具有第二幅度的第二间隔件反射信号。第一间隔件构件和第二间隔件构件沿着多导体探针被布置成使得：第一间隔件反射信号和第二间隔件反射信号相互作用以提供组合的间隔件反射信号，该组合的间隔件反射信号的幅度低于第一幅度和第二幅度中的每个幅度。

技术领域

本实用新型涉及具有低反射间隔件装置的雷达料位计系统，并且更具体地涉及具有探针和多个间隔件或间隔件装置的雷达料位计系统，该探针包括第一探针导体和第二探针导体，并且多个间隔件或间隔件装置用于控制第一探针导体与第二探针导体之间的位置关系。

背景技术

雷达料位计(RLG)系统广泛用于确定储罐中的填充料位。电磁发射信号由收发器生成并且朝向储罐中的物品的表面传播，并且该收发器接收由发射信号在表面处的反射所产生的电磁反射信号。

基于发射信号和反射信号，可以确定距物品的表面的距离。

现今市场上的大多数雷达料位计系统是所谓的脉冲雷达料位计系统，该脉冲雷达料位计系统基于脉冲的发射与脉冲在物品的表面处的反射的接收之间的时间差来确定距储罐中的物品的表面的距离；或者是下述系统，该系统基于发射的调频信号与该调频信号在表面处的反射之间的频率差来确定距表面的距离。后一类型的系统通常被称为FMCW(调频连续波)类型。

雷达料位计量通常借助于非接触式测量来执行，其中，朝向储罐中的物品辐射电磁信号；或者借助于接触式测量来执行，其通常被称为导波雷达(GWR)，其中，通过用作波导的探针将电磁信号朝向物品引导并且将电磁信号引导至物品中。探针通常被布置成从储罐的顶部朝向底部竖直延伸。

对于导波雷达料位计系统，例如取决于储罐中的物品的特性或储罐中的环境，可以使用不同种类的探针。在一些雷达料位计系统中，可以期望使用包括第一探针导体和第二探针导体的探针。可以设置间隔件以控制第一探针导体与第二探针导体之间的位置关系，例如，以防止第一探针导体与第二探针导体之间接触。

对于“正常”应用(排除例如高温高压-HTHP应用)，使用发射信号具有相对低的频率(例如大约0.1GHz-1GHz)的常规脉冲雷达料位计系统，已知的间隔件配置呈现相对低的反射，并且因此可以在不显著影响填充料位测量的情况下进行使用。这样的已知的间隔件配置可以例如包括由低反射材料、如PTFE制成的间隔件。然而，对于HTHP应用，可能不可以(或者至少不期望)使用由PTFE制成的间隔件，而陶瓷间隔件可能是优选的。然而，陶瓷间隔件呈现较强的反射，这可能对测量质量不利。在US 2008/0078244中描述了这样的陶瓷间隔件的示例。

此外，可以期望使用更高频率(例如1GHz-2GHz)的发射信号，这可能使测量对间隔件反射显著更敏感，因此，即使使用由低反射材料(例如PTFE)制成的间隔件也可能会干扰填充料位测量。

因此，将期望提供具有包括第一探针导体和第二探针导体的探针的改进的导波雷达料位计系统，特别是提供具有较小的来自间隔件的干扰的导波雷达料位计系统，该间隔件被布置成控制第一探针导体与第二探针导体之间的位置关系。

实用新型内容

鉴于上述内容，本实用新型的一般目的是提供一种具有包括第一探针导体和第二探针导体的探针的改进的导波雷达料位计系统，特别是提供一种具有较小的来自间隔件的干扰的导波雷达料位计系统，该间隔件被布置成控制第一探针导体与第二探针导体之间的位置关系。