[实用新型]显示装置有效

专利信息
申请号: 201721172053.7 申请日: 2017-09-13
公开(公告)号: CN207381400U 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 铃村功;渡壁创;花田明纮;渡边裕一 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/04;H01L29/16;H01L29/24;H01L27/32;G02F1/1362
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 杨宏军;李文屿
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示装置
【权利要求书】:

1.一种显示装置,其为在基板上形成有具有氧化物半导体层的第一TFT、和具有Poly-Si层的第二TFT的显示装置,

所述显示装置的特征在于,在所述基板上形成基膜,在所述基膜的上方形成所述氧化物半导体层,

在所述氧化物半导体层的上方形成第一层间绝缘膜,

在所述第一层间绝缘膜的上方形成所述Poly-Si层。

2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,

所述第一层间绝缘膜由包含SiO层和SiN层的多层形成,

所述SiO层形成在所述氧化物半导体层的上方。

3.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,

在所述Poly-Si层的上方形成第二层间绝缘膜,

贯通所述第二层间绝缘膜与在所述Poly-Si层之上形成的第二栅极绝缘膜而形成第二通孔,第二源漏电极经由所述第二通孔而与所述第二TFT连接,

贯通所述第二层间绝缘膜、所述第二栅极绝缘膜、及所述第一层间绝缘膜而形成第一通孔,第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。

4.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,

所述第一通孔进一步贯通覆盖所述氧化物半导体的第一栅极绝缘膜,所述第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。

5.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一TFT为底栅型TFT。

6.根据权利要求4所述的显示装置,其特征在于,所述第一TFT为顶栅型TFT。

7.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述基膜由包含SiO层的层形成,所述SiO层与所述氧化物半导体接触。

8.一种显示装置,其为在基板上形成有具有氧化物半导体层的第一TFT、和具有Poly-Si层的第二TFT的显示装置,

所述显示装置的特征在于,在所述基板形成基膜,在所述基膜之上形成第一TFT,

在所述氧化物半导体层的上方形成AlO层,覆盖所述AlO层而形成第二基膜,

在所述第二基膜之上形成所述第二TFT。

9.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,在俯视观察时,所述Poly-Si层与所述氧化物半导体层不重叠。

10.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,

在所述第二TFT之上形成第二层间绝缘膜,

贯通所述第二层间绝缘膜与在所述Poly-Si层之上形成的第二栅极绝缘膜而形成第二通孔,第二源漏电极经由所述第二通孔而与所述第二TFT连接,

贯通所述第二层间绝缘膜、所述第二栅极绝缘膜、所述第二基膜、及所述AlO层而形成第一通孔,第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。

11.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,

所述第二基膜由包含SiO层的层形成,所述SiO层以与所述AlO层接触的方式形成。

12.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,所述第二基膜由包含SiO层和SiN层的多层形成。

13.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,在所述第一TFT与所述AlO层之间形成有包含SiO层的第一层间绝缘膜。

14.根据权利要求10所述的显示装置,其特征在于,

在所述第一TFT与所述AlO层之间形成有包含SiO层的第一层间绝缘膜,所述第一通孔贯通所述第一层间绝缘膜,

所述第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。

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