[实用新型]显示装置有效
申请号: | 201721172053.7 | 申请日: | 2017-09-13 |
公开(公告)号: | CN207381400U | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 铃村功;渡壁创;花田明纮;渡边裕一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/04;H01L29/16;H01L29/24;H01L27/32;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军;李文屿 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
1.一种显示装置,其为在基板上形成有具有氧化物半导体层的第一TFT、和具有Poly-Si层的第二TFT的显示装置,
所述显示装置的特征在于,在所述基板上形成基膜,在所述基膜的上方形成所述氧化物半导体层,
在所述氧化物半导体层的上方形成第一层间绝缘膜,
在所述第一层间绝缘膜的上方形成所述Poly-Si层。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,
所述第一层间绝缘膜由包含SiO层和SiN层的多层形成,
所述SiO层形成在所述氧化物半导体层的上方。
3.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,
在所述Poly-Si层的上方形成第二层间绝缘膜,
贯通所述第二层间绝缘膜与在所述Poly-Si层之上形成的第二栅极绝缘膜而形成第二通孔,第二源漏电极经由所述第二通孔而与所述第二TFT连接,
贯通所述第二层间绝缘膜、所述第二栅极绝缘膜、及所述第一层间绝缘膜而形成第一通孔,第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。
4.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,
所述第一通孔进一步贯通覆盖所述氧化物半导体的第一栅极绝缘膜,所述第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。
5.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一TFT为底栅型TFT。
6.根据权利要求4所述的显示装置,其特征在于,所述第一TFT为顶栅型TFT。
7.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述基膜由包含SiO层的层形成,所述SiO层与所述氧化物半导体接触。
8.一种显示装置,其为在基板上形成有具有氧化物半导体层的第一TFT、和具有Poly-Si层的第二TFT的显示装置,
所述显示装置的特征在于,在所述基板形成基膜,在所述基膜之上形成第一TFT,
在所述氧化物半导体层的上方形成AlO层,覆盖所述AlO层而形成第二基膜,
在所述第二基膜之上形成所述第二TFT。
9.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,在俯视观察时,所述Poly-Si层与所述氧化物半导体层不重叠。
10.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,
在所述第二TFT之上形成第二层间绝缘膜,
贯通所述第二层间绝缘膜与在所述Poly-Si层之上形成的第二栅极绝缘膜而形成第二通孔,第二源漏电极经由所述第二通孔而与所述第二TFT连接,
贯通所述第二层间绝缘膜、所述第二栅极绝缘膜、所述第二基膜、及所述AlO层而形成第一通孔,第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。
11.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,
所述第二基膜由包含SiO层的层形成,所述SiO层以与所述AlO层接触的方式形成。
12.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,所述第二基膜由包含SiO层和SiN层的多层形成。
13.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,在所述第一TFT与所述AlO层之间形成有包含SiO层的第一层间绝缘膜。
14.根据权利要求10所述的显示装置,其特征在于,
在所述第一TFT与所述AlO层之间形成有包含SiO层的第一层间绝缘膜,所述第一通孔贯通所述第一层间绝缘膜,
所述第一源漏电极经由所述第一通孔而与所述第一TFT连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的