[实用新型]测量装置有效

专利信息
申请号: 201721010949.5 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN207081401U 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 田凯;董楠;察和日玛 申请(专利权)人: 纳恩博(天津)科技有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 代理人: 李杰
地址: 301701 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本申请实施例涉及测量技术领域,尤其涉及一种测量装置。

背景技术

型材是铁或钢等具有一定强度和韧性的材料通过轧制,挤出,铸造等工艺制成的具有一定几何形状的物体。型材可以用于机械加工、电器电机、装备制造、交通运输等多个方面,应用范围极为广泛。而由于技术发展,人们对于型材的精度要求越来越高,而型材标准中极为重要的一项是型材的纵向弯曲度。

目前挤出型材的纵向弯曲度按照GB/T14846-2008标准要求,采用测量平台以及塞尺进行测量。塞尺即一组具有不同厚度级差的薄钢片组成的量规,塞尺一般用不锈钢制造,最薄的为0.02毫米,最厚的为3毫米,各塞尺之间存在厚度级差。再测量时,需要将塞尺放入型材与平台之间的最大间隙中,并不断切换塞尺以进行反复测量,直至确定与最大间隙最适配的塞尺,进而确定型材的纵向弯曲度。

但是通过塞尺测量时,需要反复测量,极大的影响了测量速度。因此如何提供一种快速测量型材纵向弯曲度的装置成为了现有技术亟需解决的技术问题。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种测量装置,用以至少解决现有技术中的上述问题。

本申请实施例提供一种测量装置,其包括:用于放置被测对象的底座、设置在所述底座上的导轨以及滑动设置在所述导轨上的测量部;所述测量部用于在所述导轨上滑动来测量所述被测对象的待测面相对参考基准面的距离变化量,所述距离变化量用于确定所述被测对象的待测参数。

在本申请任一实施例中,所述导轨为直线导轨。

在本申请任一实施例中,还包括:支撑杆,所述导轨通过所述支撑杆设置在所述底座上。

在本申请任一实施例中,所述支撑杆的数量为两个,所述导轨的两端分别连接一个所述支撑杆。

在本申请任一实施例中,所述支撑杆第一端与所述底座通过螺纹连接,所述支撑杆第二端与所述导轨连接,或所述支撑杆的第一端与所述底座一体成型。

在本申请任一实施例中,所述导轨套装于所述支撑杆上,所述导轨沿所述支撑杆上下滑动来改变所述导轨与所述底座之间的垂直距离。

在本申请任一实施例中,还包括:限位结构件,所述限位结构件用于在所述导轨沿所述支撑杆上下滑动至预设位置后限制所述导轨的滑动。

在本申请任一实施例中,所述测量部通过支架套接在所述导轨上,所述支架沿所述导轨滑动,以带动所述测量部在所述导轨上滑动。

在本申请任一实施例中,所述测量部为千分表或百分表。

在本申请任一实施例中,所述底座为大理石制成的底座。

本申请实施例提供一种测量装置,其包括:用于放置被测对象的底座、设置在所述底座上的导轨以及滑动设置在所述导轨上的测量部;所述测量部用于在所述导轨上滑动来测量所述被测对象的待测面相对参考基准面的距离变化量,所述距离变化量用于确定所述被测对象的待测参数,通过测量部在导轨上滑动来确定待测参数,测量速度更快。

附图说明

图1A为本申请实施例一提供的一种测量装置的结构示意图;

图1B为本申请实施例一提供的一种测量装置的另一结构示意图;

图2为本实施例提供的一种测量型材纵向弯曲度的示意图;

图3为现有技术中的一种圆台的截面图。

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本申请的实施方式,藉此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

图1A为本申请实施例一提供的一种测量装置的结构示意图,图1B为本申请实施例一提供的一种测量装置的另一结构示意图,如图1A、图1B所示,其包括:用于放置被测对象的底座11、设置在所述底座11上的导轨12以及滑动设置在所述导轨12上的测量部13;所述测量部13用于在所述导轨12上滑动来测量所述被测对象的待测面相对参考基准面的距离变化量,所述距离变化量用于确定所述被测对象的待测参数,通过测量部在导轨上滑动来确定待测参数,测量速度更快。

本实施例中,所述底座11为大理石制成的底座11,与其他材料相比。大理石底座的平整度以及稳定度较好,更有利于保证测量精度。如图所示,底座11可以为倒U形底座11,在放置被测对象的同时稳定支撑测量装置。

本实施例中,测量被测对象时,测量部13滑动的轨迹若为直线,相应的,导轨12为直线导轨。

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