[实用新型]测量装置有效
| 申请号： | 201721010949.5 | 申请日： | 2017-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN207081401U | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 田凯;董楠;察和日玛 | 申请（专利权）人： | 纳恩博（天津）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 301701 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
1.一种测量装置，其特征在于，包括：用于放置被测对象的底座、设置在所述底座上的导轨以及滑动设置在所述导轨上的测量部；所述测量部用于在所述导轨上滑动来测量所述被测对象的待测面相对参考基准面的距离变化量，所述距离变化量用于确定所述被测对象的待测参数。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述导轨为直线导轨。
3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括：支撑杆，所述导轨通过所述支撑杆设置在所述底座上。
4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述支撑杆的数量为两个，所述导轨的两端分别连接一个所述支撑杆。
5.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述支撑杆第一端与所述底座通过螺纹连接，所述支撑杆第二端与所述导轨连接，或所述支撑杆的第一端与所述底座一体成型。
6.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述导轨套装于所述支撑杆上，所述导轨沿所述支撑杆上下滑动来改变所述导轨与所述底座之间的垂直距离。
7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，还包括：限位结构件，所述限位结构件用于在所述导轨沿所述支撑杆上下滑动至预设位置后限制所述导轨的滑动。
8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量部通过支架套接在所述导轨上，所述支架沿所述导轨滑动，以带动所述测量部在所述导轨上滑动。
9.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量部为千分表或百分表。
10.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述底座为大理石制成的底座。
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