[实用新型]一种用于样品形貌的检测装置有效

专利信息
申请号: 201720795522.4 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN207147427U 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 张浩 申请(专利权)人: 翔鹰航空工业有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 南昌赣专知识产权代理有限公司36129 代理人: 文珊,刘锦霞
地址: 334200 *** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 样品 形貌 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:包括激光器(1)、反射镜(2)、光电二极管(3)、控制器(4)、用于扫描待检测样品(11)的扫描器(5)、以及用于检测所述待检测样品(11)的探针(6);

所述激光器(1)位于所述反射镜(2)入射光的一侧;所述探针(6)位于所述反射镜(2)的下方;所述扫描器(5)位于所述探针(6)的下方;所述控制器(4)的第一接口与所述光电二极管(3)的负极电连接,所述控制器(4)的第二接口与所述扫描器(5)电连接。

2.如权利要求1所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

还包括光电探测器(7);

所述光电探测器(7)位于所述反射镜(2)的出射光所在侧。

3.如权利要求2所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

还包括准直器(8);

所述准直器(8)的第一端位于所述光电探测器(7)的输出端所在侧,所述准直器(8)的第二端与所述光电二极管(3)的正极电连接。

4.如权利要求1所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

还包括显示器(9);

所述显示器(9)与所述控制器(4)的第三接口电连接。

5.如权利要求1所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

所述扫描器(5)配置为压电晶体扫描器。

6.如权利要求2所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

所述光电探测器(7)配置为CMOS感光器。

7.如权利要求1所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

所述反射镜(2)配置为激光谱线反射镜。

8.如权利要求7所述的一种用于样品形貌的检测装置,其特征在于:

所述激光谱线反射镜的波长是1064nm。

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