[实用新型]一种二氧化硅膜的热氧化装置有效
申请号: | 201720747957.1 | 申请日: | 2017-06-23 |
公开(公告)号: | CN207338310U | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 王金平 | 申请(专利权)人: | 王金平 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 311800 浙江省绍*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二氧化硅 氧化 装置 | ||
本实用新型公开了一种二氧化硅膜的热氧化装置,包括顶盖和底座,所述底座上设置有圆柱形的加热体,且所述加热体分为上下两部分,且加热体下半部固定在底座上,所述加热体内圈壁中均匀设置有内嵌电阻丝,所述加热体内部套装有圆柱形的蓄热传导体,所述蓄热传导体内部中间对称设置有两块热电偶,所述蓄热传导体内部套装有石英管,所述石英管两端延伸出底座两侧,所述石英管两端均安装有密封法兰盘,左端所述法兰盘的右侧设置有滤腔,所述滤腔的顶部设置有通水管,所述滤腔右侧边界设置有半透膜层,所述法兰盘中间设置有象鼻管,所述石英管在蓄热传导体的两侧边界处设置有内突圈,所述内突圈弧度为石英管周长的一半。
技术领域
本实用新型涉及二氧化硅膜制备技术领域,具体为一种二氧化硅膜的热氧化装置。
背景技术
在微电子工业中,SiO2薄膜也可采用CVD或者LPCV方法沉积,但热氧化法制备的SiO2薄膜具有结构致密、均匀性和重复性好、电特性最佳与光刻胶粘附性好等优点,是制备半导体器件关键部分的高质量SiO2薄膜的常用方法,而在热氧化法制备二氧化硅膜的制备过程中,普遍存在制备效率不高的问题,其基本原理是氧化气体源从一端炉口通入加热炉内,在900-1200℃的高温下,氧化剂分子向硅晶片内扩散并与硅晶片表面发生化学反应,生成SiO2薄膜,氧化物的生长主要有两个过程决定,一个是氧化剂经由氧化层向硅表面扩散的过程,一个是氧化剂与Si表面的化学反应过程,而硅的表面反应是限制其硅膜生成的主要因素,而现有的热氧化装置,只是通过对反应物进行煅烧,提供自然反应,从而很难达到很好的制备效果。
实用新型内容
为了克服现有技术方案的不足,本实用新型提供一种二氧化硅膜的热氧化装置,包括顶盖和底座,所述底座上设置有圆柱形的加热体,且所述加热体分为上下两部分,且加热体下半部固定在底座上,所述加热体内圈壁中均匀设置有内嵌电阻丝,所述加热体内部套装有圆柱形的蓄热传导体,所述蓄热传导体内部中间对称设置有两块热电偶,所述蓄热传导体内部套装有石英管,所述石英管两端延伸出底座两侧,所述石英管两端均安装有密封法兰盘,所述法兰盘中间设置有象鼻管,左端所述法兰盘的右侧设置有滤腔,所述滤腔的顶部设置有通水管,所述滤腔右侧边界设置有半透膜层,所述石英管在蓄热传导体的两侧边界处设置有内突圈,所述内突圈弧度为石英管周长的一半。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述顶盖和底座活动连接在一起,且可实现开合。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述加热体的上下两部分通过铰接轴连接在一起。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述内嵌电阻丝和热电偶通过电性连接有PLC控制器,且通过市电供电。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述内嵌电阻丝成发夹弯状层叠,且和蓄热传导体外圈表面接触。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述顶盖和加热体的上半部均设置有握把,所述加热体为陶瓷材质。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型通过设置湿性的氧气反应环境,提高同温度下硅膜的反应效率,通过加热层的发夹弯紧贴蓄热传导体,提供很好的持续加热状态,同时又避免直接加热石英管造成的热过量,通过设置内突圈的阻挡作用,实现内部的热循环状态,使得其表面反应更加充分。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型加热体剖面结构示意图。
图中:1-顶盖;2-石棉复合板;3-气孔;4-加热体;5-蓄热传导体;6-握把;7-底座;8-内突圈;9-石英管;10-密封法兰盘;11-象鼻管;12-热电偶;13-内嵌电阻丝;14-铰接轴;15-通水管;16-滤腔;17-半透膜层。
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造