[实用新型]半导体激光器光纤耦合模块测试系统

说明书

技术领域

本新用新型属于半导体激光光纤耦合模块测试领域，特别是涉及一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统。

背景技术

大功率半导体激光光纤耦合器件因其输出功率高、寿命长、转换效率高、体积小等优点而广泛应用到工业、国防、医疗、泵浦固体激光器等领域，是目前激光技术领域的研究热点。

半导体激光器，尤其是高功率的半导体激光器，其工作状态的稳定性，直接影响上述领域的安全性及使用。因此开发和研制半导体激光光纤耦合模块综合性能测试系统不论对于科研单位、生产厂商、使用客户都具有极为重要的意义。

给激光光纤耦合模块供电的测试治具是测试系统的一个重要环节，它要求供电系统的稳定，这是对激光光纤耦合模块进行无损测试的前提和保证。现有的激光光纤耦合模块测试治具，存在几个问题：人工操作耗时时间长，使用螺钉固定的方式存在压力不平衡，重复测量精度差、导致模组损坏等缺陷，散热效果差，大电流下功率测试不准确。

发明内容

本实用新型提供一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统，能够解决现有技术中人工操作低效耗时、螺钉紧固压力不平衡易损坏激光光纤耦合模块以及散热效果较差的技术问题。

本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统，所述测试系统包括：半导体激光器光纤耦合模块；驱动电流源，与所述半导体激光器光纤耦合模块连接，且所述驱动电流源设置有电源过冲保护，用于为所述半导体激光器光纤耦合模块提供工作电流，以及测试所述半导体激光器光纤耦合模块的光功率及电压；测试治具，用于承载所述半导体激光器光纤耦合模块，所述测试治具具有平坦性及导热性；数据采集模块，与所述半导体激光器光纤耦合模块耦接，用于对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行数据采集；计算处理模块，分别与所述驱动电流源和所述数据采集模块耦接，以在测试时对所述驱动电流源的关合进行实时控制及对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行反馈。

本实用新型的有益效果是：提供一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统，通过在半导体激光器光纤耦合模块测试系统设置测试治具，能够解决现有技术中人工操作低效耗时、螺钉紧固压力不平衡易损坏激光光纤耦合模块以及散热效果较差的技术问题。

附图说明

图1是本实用新型半导体激光器光纤耦合模块测试系统一实施方式的结构示意图；

图2是本实用新型测试治具一实施方式的结构示意图；

图3是本实用新型数据采集模块一实施方式的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，图1是本实用新型半导体激光器光纤耦合模块测试系统。测试系统包括：半导体激光器光纤耦合模块11、驱动电流源12、测试治具13、数据采集模块14以及计算处理模块15。

其中，半导体激光器光纤耦合模块11。

其中，驱动电流源12，与半导体激光器光纤耦合模块11连接，用于为半导体激光器光纤耦合模块测试系统提供工作电流的注入。在本申请中，该驱动电流源12可以选用可编程电源，且该驱动电流源12设置有电源过冲保护，在其内部设置该驱动电流源12的开启电源过冲量不超过100mA。如此，在电源开启的时候能够防止因为过冲现象而将半导体激光器光纤耦合模块11等其他器件烧坏。

测试治具13，设置于半导体激光器光纤耦合模块11下方，用于承载该半导体激光器光纤耦合模块11。请一并参阅图2，图2为本实用新型测试治具一实施方式的结构示意图。

该测试治具进一步包括：包括散热载台和压紧单元，其中，散热载台用于承载激光光纤耦合模块，并在测试时对所述激光光纤耦合模块进行液冷式散热；压紧单元用于以弹性压紧方式将所述激光光纤耦合模块压紧在所述散热载台上进而进行测试。

其中，散热载台进一步包括：基板110、绝缘层垫120、水槽130以及散热金属板140。

其中，基板110可由平板和立板支撑至预定高度以提供一个稳定的支撑承载测试平台。

绝缘层垫120设于所述基板110上以将基板110与基板110之上的部件绝缘隔离以防止给电测试时漏电。