[实用新型]半导体激光器光纤耦合模块测试系统

权利要求书

1.一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

半导体激光器光纤耦合模块；

驱动电流源，与所述半导体激光器光纤耦合模块连接，所述驱动电流源设置有电源过冲保护，用于为所述半导体激光器光纤耦合模块提供工作电流，以及测试所述半导体激光器光纤耦合模块的光功率及电压；

测试治具，设置于所述半导体激光器光纤耦合模块下方，所述测试治具具有平坦性及导热性；

数据采集模块，与所述半导体激光器光纤耦合模块耦接，用于对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行数据采集；

计算处理模块，分别与所述驱动电流源和所述数据采集模块耦接，以在测试时对所述驱动电流源的关合进行实时控制及对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行反馈。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述驱动电流源为可编程电源。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试治具进一步包括：

散热基垫，用于放置所述半导体激光器光纤耦合模块，并在测试时对所述半导体激光器光纤耦合模块进行液冷式散热；

压紧单元，用于以弹性压紧方式将所述半导体激光器光纤耦合模块压紧在散热载台上进而进行测试。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述散热载台包括：

基板；

绝缘层垫，设于所述基板上；

水槽，设于所述绝缘层垫上；

散热金属板，设于所述水槽上，用于承载所述半导体激光器光纤耦合模块的下表面。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述散热载台还包括半导体制冷片，所述半导体制冷片，设于所述水槽和所述散热金属板之间。

6.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述压紧单元包括：

固定机构；

滑动机构，与所述固定机构相固；

控制机构，与所述固定机构相固定并与所述滑动机构活动配合；

弹性机构，与所述控制机构相连接，以在所述控制机构的作用下进行升降。

7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统进一步包括半导体温度控制器，所述半导体温度控制器连接所述测试治具，以对所述测试治具的实时温度进行监测。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统进一步包括开关电源，所述开关电源连接半导体温度控制器。

9.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述数据采集模块进一步包括：

积分球，所述积分球连接所述半导体激光器光纤耦合模块，用于测试所述半导体激光器光纤耦合模块的光功率；

光谱仪，所述光谱仪第一端连接所述积分球，第二端连接所述计算处理模块；

放大器，所述放大器一端连接所述积分球，另一端连接所述驱动电流源。

10.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试治具进一步包括冷水机，所述冷水机与所述测试治具中的水槽连接。