[实用新型]阻抗测试条及电路板

说明书

技术领域

本实用新型涉及印制电路板设计制造技术领域，尤其涉及一种阻抗测试条及电路板。

背景技术

随着信号传输趋于高速化和高频化发展，信号的上升时间越来越短，PCB中信号传输频率和传输速率也不断提高。同时，信号传输的高速化和高频化发展使得传输线效应日趋严重，信号在传输过程中更容易出现串扰、反射等问题，为保持信号传输的完整性，要求PCB在设计和制造过程中保证阻抗匹配。因此，阻抗是高速PCB设计和制造过程中需要严格控制的重要指标之一。

对于PCB阻抗控制，一般需要管控PCB上的信号线的阻抗以及不同层之间通过过孔进行电气连接时的过孔阻抗。传统的，通过在电路板的生产拼版板边设计阻抗测试条，通过测试阻抗测试条的阻抗来判定产品的线路阻抗是否合格。而需要管控过孔阻抗时，既需要阻抗测试条的线路阻抗，也需要在PCB拼版的图形内寻找带有过孔的阻抗线测试过孔阻抗值，然后评判线路阻抗和过孔阻抗是否符合要求。但是，由于PCB拼版的图形的复杂和多样性，要找到满足需求的阻抗线难度较大，进而导致测试工作量较大，效率低下。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种阻抗测试条及电路板，该阻抗测试条及电路板进行阻抗测试时操作简单方便，能够减少测试工作量，提高测量效率。

其技术方案如下：

一种阻抗测试条，包括测试条本体，所述测试条本体上设有单端阻抗测试线及/或差分阻抗测试线，

当所述测试条本体上设有单端阻抗测试线时，所述单端阻抗测试线包括第一过孔，以及设于所述测试条本体的不同层的第一单端阻抗线和第二单端阻抗线，所述第一单端阻抗线的第一端与所述第二单端阻抗线的第一端通过所述第一过孔进行转层，所述测试条本体上在所述第一单端阻抗线的第二端及/或所述第二单端阻抗线的第二端处设有第一测试孔；

当所述测试条本体上设有差分阻抗测试线时，所述差分阻抗测试线包括第二过孔，以及设于所述测试条本体的不同层的第一差分阻抗线和第二差分阻抗线，所述第一差分阻抗线的第一端与所述第二差分阻抗线的第一端通过所述第二过孔进行转层，所述测试条本体上在所述第一差分阻抗线的第二端及/或所述第二差分阻抗线的第二端处设有第二测试孔。

在其中一个实施例中，所述第一测试孔包括单端信号孔和单端地孔，所述单端信号孔设于所述第一单端阻抗线的第二端及/或所述第二单端阻抗线的第二端处，所述单端信号孔与所述单端地孔之间的间距用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

在其中一个实施例中，所述第二测试孔包括第一差分信号孔、第二差分信号孔、第一差分地孔和第二差分地孔，所述第一差分阻抗线包括一对差分阻抗线，所述第二差分阻抗线包括一对差分阻抗线；

所述第一差分信号孔设于所述第一差分阻抗线的其中一条差分阻抗线的第二端及/或第二差分阻抗线的其中一条差分阻抗线的第二端处，所述第二差分信号孔设于所述第一差分阻抗线的其中另一条差分阻抗线的第二端及/或第二差分阻抗线的其中另一条差分阻抗线的第二端处；

所述第一差分信号孔与第二差分信号孔之间的间距用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

在其中一个实施例中，所述第一差分地孔与第二差分地孔之间的间距、所述第一差分地孔与所述第一差分信号孔、所述第二差分地孔与所述第二差分信号孔之间的间距均用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

在其中一个实施例中，所述第一单端阻抗线和第二单端阻抗线的长度均大于1inch，所述第一差分阻抗线和第二差分阻抗线的长度均大于1inch。

在其中一个实施例中，所述第一单端阻抗线和第二单端阻抗线的长度相同，所述第一差分阻抗线和第二差分阻抗线的长度相同。

在其中一个实施例中，所述测试条本体的表层或底层在所述第一测试孔的一侧设有第一标识部，所述测试条本体的表层或底层在所述第二测试孔的一侧设有第二标识部。

在其中一个实施例中，所述单端阻抗测试线与差分阻抗测试线均为阻抗测试线，所述阻抗测试线为至少两根，至少两根所述阻抗测试线沿纵向方向间隔排列。

在其中一个实施例中，所述第一单端阻抗线、第二单端阻抗线以及第一过孔的结构用于与PCB拼版的图形内的带过孔的待测单端阻抗线的结构一致，所述第一差分阻抗线、第二差分阻抗线以及第二过孔的结构用于与PCB拼版的图形内的带过孔的待测差分阻抗线的结构一致。

一种电路板，包括如上所述的阻抗测试条以及PCB拼版，所述阻抗测试条设置在所述PCB拼版的板边或PCB拼版的相邻图形单元之间。

本实用新型的有益效果在于：