[实用新型]阻抗测试条及电路板有效

专利信息
申请号: 201720724623.2 申请日: 2017-06-20
公开(公告)号: CN206945824U 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 程柳军;李华;李艳国;陈蓓 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/28
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 王瑞
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 阻抗 测试 电路板
【权利要求书】:

1.一种阻抗测试条,其特征在于,包括测试条本体,所述测试条本体上设有单端阻抗测试线及/或差分阻抗测试线,

当所述测试条本体上设有单端阻抗测试线时,所述单端阻抗测试线包括第一过孔,以及设于所述测试条本体的不同层的第一单端阻抗线和第二单端阻抗线,所述第一单端阻抗线的第一端与所述第二单端阻抗线的第一端通过所述第一过孔进行转层,所述测试条本体上在所述第一单端阻抗线的第二端及/或所述第二单端阻抗线的第二端处设有第一测试孔;

当所述测试条本体上设有差分阻抗测试线时,所述差分阻抗测试线包括第二过孔,以及设于所述测试条本体的不同层的第一差分阻抗线和第二差分阻抗线,所述第一差分阻抗线的第一端与所述第二差分阻抗线的第一端通过所述第二过孔进行转层,所述测试条本体上在所述第一差分阻抗线的第二端及/或所述第二差分阻抗线的第二端处设有第二测试孔。

2.根据权利要求1所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第一测试孔包括单端信号孔和单端地孔,所述单端信号孔设于所述第一单端阻抗线的第二端及/或所述第二单端阻抗线的第二端处,所述单端信号孔与所述单端地孔之间的间距用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

3.根据权利要求2所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第二测试孔包括第一差分信号孔、第二差分信号孔、第一差分地孔和第二差分地孔,所述第一差分阻抗线包括一对差分阻抗线,所述第二差分阻抗线包括一对差分阻抗线;

所述第一差分信号孔设于所述第一差分阻抗线的其中一条差分阻抗线的第二端及/或第二差分阻抗线的其中一条差分阻抗线的第二端处,所述第二差分信号孔设于所述第一差分阻抗线的其中另一条差分阻抗线的第二端及/或第二差分阻抗线的其中另一条差分阻抗线的第二端处;

所述第一差分信号孔与第二差分信号孔之间的间距用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

4.根据权利要求3所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第一差分地孔与第二差分地孔之间的间距、所述第一差分地孔与所述第一差分信号孔、所述第二差分地孔与所述第二差分信号孔之间的间距均用于与阻抗测试探针的标准间距匹配。

5.根据权利要求1-4任一项所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第一单端阻抗线和第二单端阻抗线的长度均大于1inch,所述第一差分阻抗线和第二差分阻抗线的长度均大于1inch。

6.根据权利要求5所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第一单端阻抗线和第二单端阻抗线的长度相同,所述第一差分阻抗线和第二差分阻抗线的长度相同。

7.根据权利要求1-4任一项所述的阻抗测试条,其特征在于,所述测试条本体的表层或底层在所述第一测试孔的一侧设有第一标识部,所述测试条本体的表层或底层在所述第二测试孔的一侧设有第二标识部。

8.根据权利要求1-4任一项所述的阻抗测试条,其特征在于,所述单端阻抗测试线与差分阻抗测试线均为阻抗测试线,所述阻抗测试线为至少两根,至少两根所述阻抗测试线沿纵向方向间隔排列。

9.根据权利要求1-4任一项所述的阻抗测试条,其特征在于,所述第一单端阻抗线、第二单端阻抗线以及第一过孔的结构用于与PCB拼版的图形内的带过孔的待测单端阻抗线的结构一致,所述第一差分阻抗线、第二差分阻抗线以及第二过孔的结构用于与PCB拼版的图形内的带过孔的待测差分阻抗线的结构一致。

10.一种电路板,其特征在于,包括权利要求1-9任一项所述的阻抗测试条以及PCB拼版,所述阻抗测试条设置在所述PCB拼版的板边或PCB拼版的相邻图形单元之间。

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