[实用新型]半自动芯片外观检测标记装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片检测领域，具体而言，涉及一种半自动芯片外观检测标记装置。

背景技术

随着微电子行业的发展，对产品的质量要求越来越高，自动化设备的投入，减小了人员成本，但是自动化设备只是起到了对产品的初检，且设备成本较大，在实际生产过程中，产品图形不完整、表面沾污和基片缺陷等情况，均可能不会影响到产品的性能测试，因此目检工艺成为必不可少的工艺环节，能够有效提升产品的质量，然而，传统的人工目检不易做标记或者去除不良品，耗时耗力、不易操作、效率低。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型的一个目的在于提供一种半自动芯片外观检测标记装置。

为实现上述目的，根据本实用新型的实施例的半自动芯片外观检测标记装置，包括：底座；以及安装于底座的可调节组件；打点组件，与可调节组件固定连接；显微镜成像系统，显微镜成像系统与打点组件配合设置固设于底座上，其中，待检测芯片设于打点组件中的打点位置，显微镜成像系统的焦点与待检测芯片重合，将所成图像传输至显示屏幕。

在该技术方案中，通过设置底座、打点组件以及在底座和打点组件之间设置可调节组件，能够将打点组件固定在相对于底座的任意一个位置，进而可以重复对该位置进行打点标记，通过将待检测芯片设于打点组件中的打点位置，使得操作过程简单方便，进而有效的提高了操作人员的工作效率。

另外，通过在底座上固定设置显微镜成像系统，且显微镜成像系统与打点组件配合设置，显微镜成像系统的焦点与待检测芯片重合，将所成图像传输至显示屏幕，使得在目检过程中，可以有效减轻操作人员的视觉疲劳，其中，所成图像为彩色图像，通过清楚的显示待检测芯片的图像，使操作人员能够准确的对有问题的芯片产品做标记或者去除不良品，节约了对应的工时，提高生产效率，进而提升了芯片产品的质量。

另外，本实用新型提供的上述实施例中的半自动芯片外观检测标记装置还可以具有如下附加技术特征：

在上述技术方案中，优选地，打点组件包括：墨盒；连通墨盒的针管，针管垂直于墨盒设置；打点器，与针管固定连接，打点器带动针管相对于墨盒伸缩移动。

在上述任一技术方案中，优选地，还包括：触碰开关，与打点器电连接，触碰开关控制打点器的工作状态。

在该技术方案中，打点组件包括墨盒以及连通墨盒的针管，通过将针管垂直于墨盒设置，使得打点组件所作的标记清晰且均匀，另外，通过将打点器与针管固定连接，并将打点器与触碰开关控制连接，其中触碰开关可以控制打点器的工作状态，使打点器带动针管相对于墨盒伸缩移动，检测过程中，当发现待检测芯片有问题时，只需要按动触碰开关，即可对出现问题的待检测芯片(即不合格芯片)作出清楚且均匀的标记，增强产品实用性，能够有效减少不合格芯片的流出。

在上述任一技术方案中，优选地，可调节组件包括:微动台，包括固定座以及安装于固定座上的多个可移动块，多个可移动块自上而下垂直于底座设置，相邻的两个可移动块之间分别设有导轨和导槽，导轨与导槽配合连接，多个可移动块之间的滑动轨迹相互交错；调节支架，一端与底座转动连接，另一端与固定座固定连接。

在该技术方案中，通过自上而下垂直于底座在固定座上设置的多个可移动块，且相邻的两个可移动块之间分别设有相互配合的导轨和导槽，多个可移动块之间的滑动轨迹相互交错，使除最底端以外的任意一个可移动块都能够相对于底座平行移动，进而能够实现使最顶端的可移动块相对于底座向任意一个方向平行移动。

优选地，底座水平设置，以及固定座与底座平行设置。

在上述任一技术方案中，优选地，多个可移动块包括设置在最顶端的第一块，以及设置在第一块之下的多个第二块；安装架，与第一块固定连接，打点组件安装于安装架。

在该技术方案中，通过设置安装架，并将安装架与最顶端的第一块固定连接，打点组件安装于安装架，能够使打点组件相对于固定座向任意一个水平方向移动，对水平打点位置进行微调。

在上述任一技术方案中，优选地，微动台还包括：第一调节螺杆，与固定座转动连接，第一调节螺杆与最底端的第二块配合设置，第一调节螺杆调节打点组件相对底座之间的垂直距离；多个第二调节螺杆，设于每个第二块，每个第二调节螺杆与其上一层的可移动块配合设置，多个第二调节螺杆调节打点组件投影于底座的投影位置。