[实用新型]用于测试的CMOS开关电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种用于测试的CMOS开关电路。

背景技术

电路板制成后均需要进行测试，以确保各方面的性能都正常。ICT(In Circuit Tester)测试则是其中一种较为普遍的测试方式，现有用于测试的电路中多采用普通开关，反应速度慢，寿命短，不能满足反复测试的需求。

实用新型内容

本实用新型即是克服现有技术不足，提供一种用于测试的CMOS开关电路。

具体来说，一种用于测试的CMOS开关电路，其包括接收测试指令的IO控制卡、接收IO卡指令的系统板及与系统板建立通信连接的CMOS开关组，所述CMOS开关电路至少包括两个CMOS开关，所述CMOS开关电路具有至少四个信号点接口，所述CMOS开关组将测量信号传送至待测元件并将反馈结果传送至系统板。

进一步的，所述CMOS开关为4*4交叉点CMOS开关。

进一步的，所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源。

进一步的，所述各信号点接口同时工作。

本实用新型所述的用于测试的CMOS开关电路，具有多个信号点接口，且可实现多个信号点同时工作，可同时测试多个多端元件，有效增强了测试能力，且CMOS开关速度快，可有效减少测试时间，有利于提高效率。

附图说明

图1为本实用新型用于测试的CMOS开关电路的框架图。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型所述的用于测试的CMOS开关电路进行非限制性地说明，目的是为了公众更好地理解所述的技术内容。

如图1所示，本实用新型所述的用于测试的CMOS开关电路可用于工业测试，如ICT(In Circuit Tester)测试，可作为电路板量测系统与电路板连接的传输界面。所述CMOS开关电路包括接收上位机8的测试指令的IO(输入/输出)控制卡1、接收IO控制卡指令的系统板2及与系统板2建立通信连接的CMOS开关组，所述CMOS开关组将测量信号传送至待测元件5、6、7并将反馈结果传送至系统板2。所述CMOS开关组至少包括两个CMOS开关3、4，此CMOS开关优选4*4交叉点CMOS开关，型号为M22100或CD22100，两颗4*4交叉CMOS开关可组成四个信号点接口。

所述四个信号点接口可同时工作，同时对多个多端元件进行测试，图1中即显示了同时对两个两端元件5、6及一个四端元件7进行测试。

所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源，有效扩大了其测试的范围。所述CMOS开关电路可用于测试电阻值、电容值、电压值、电感量、二极管、三极管、稳压管、场效应管、光耦、继电器、开路、短路等。

本实用新型所述的用于测试的CMOS开关电路，具有多个信号点接口，且可实现多个信号点同时工作，可同时测试多个多端元件，有效增强了测试能力，且CMOS开关速度快，无机械寿命，可有效减少测试时间，有利于提高效率，节省成本。

应该理解的是，上述内容不是对所述技术方案的限制，事实上，凡以相同或近似原理对所述技术方案进行的改进，包括各部分的形状、尺寸、所用材质的改进，以及相似功能元件的替换，都在本实用新型要求保护的技术方案之内。