[实用新型]用于测试的CMOS开关电路有效
| 申请号： | 201720511710.X | 申请日： | 2017-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN206788319U | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘桥平 | 申请（专利权）人： | 深圳市安硕科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/20;G01R1/30;H03K17/042;H03K17/687 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测试 cmos 开关电路 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试的CMOS开关电路，其包括接收测试指令的IO控制卡、接收IO卡指令的系统板及与系统板建立通信连接的CMOS开关组，其特征在于，所述CMOS开关组至少包括两个CMOS开关，所述CMOS开关电路具有至少四个信号点接口，所述CMOS开关组将测量信号传送至待测元件并将反馈结果传送至系统板。
2.根据权利要求1所述的用于测试的CMOS开关电路，其特征在于：所述CMOS开关为4*4交叉点CMOS开关。
3.根据权利要求2所述的用于测试的CMOS开关电路，其特征在于：所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源。
4.根据权利要求3所述的用于测试的CMOS开关电路，其特征在于：所述各信号点接口同时工作，各信号点接口可搭配使用。
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