[实用新型]检查夹具及具备该检查夹具的检查装置有效

专利信息
申请号: 201720469547.5 申请日: 2017-04-28
公开(公告)号: CN206848313U 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 木津卓也;李俊华;何幼峰 申请(专利权)人: 日本电产理德机器装置(浙江)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 韩俊
地址: 314200 浙江省嘉兴市浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 检查 夹具 具备 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及检查夹具及具备该检查夹具的检查装置,上述检查夹具用于对电路基板等进行电检查。

背景技术

一直以来,在对电路基板的配线图案的短路、断路等进行电检查时,使用一种具备与电路基板的端子导电接触的多根直线状的探针的检查夹具。这种检查夹具具备:多根探针,多根该探针的一端能够与所述检查对象接触,另一端与电极接触;检查侧支承体,该检查侧支承体形成有供所述探针插通的检查侧贯通孔;电极侧支承体,该电极侧支承体以与所述检查侧支承体隔开规定间隔的方式,相对于所述检查侧支承体配置于与所述探针的一端相反的一侧,并形成有供所述探针插通的电极侧贯通孔;以及多个连接构件,多个该连接构件将所述电极侧支承体与所述检查侧支承体连接。在上述检查夹具中,使探针倾斜地贯穿检查侧支承体和电极侧支承体的贯通孔。

然而,在上述检查夹具中,上述电极侧支承体中的电极侧贯通孔通常通过钻孔加工而成,因此,在进行钻孔加工时,往往容易在电极侧贯通孔的钻孔加工后方侧的边缘产生毛刺,该毛刺会使电极侧贯通孔的截面积变小甚至导致电极侧贯通孔堵塞,在这种情况下,就很难将探针贯穿电极侧支承体,影响检查夹具的组装效率。此外,当电极侧贯通孔处存在毛刺时,探针容易与毛刺发生摩擦,从而无法稳定地进行电检查。

实用新型内容

因此,本实用新型是鉴于上述技术问题而完成的,其目的在于提供检查夹具及具备该检查夹具的检查装置,上述检查夹具能避免因毛刺的干扰而导致组装效率降低,同时能避免探针与毛刺发生摩擦,从而能稳定地进行电检查。

为了实现上述目的,本实用新型的第一方面提供一种检查夹具,安装在用于对检查对象进行检查的检查装置中,包括:夹具头部;以及以能装卸的方式与所述夹具头部连接,并设置在所述夹具头部的同所述检查对象相反的一侧,且安装有电极的电极安装部,其中,所述夹具头部包括:具有检查侧贯通孔的检查侧支承体;与所述检查侧支承体隔开间隔配置,且具有电极侧贯通孔的电极侧支承体;将所述检查侧支承体与所述电极侧支承体连接在一起的连接构件;以及贯穿所述检查侧贯通孔和所述电极侧贯通孔、前端从所述检查侧支承体突出而能够与所述检查对象接触、后端从所述电极侧支承体突出而与所述电极接触的多根探针,所述电极侧支承体由分别形成有贯通孔的多块电极侧支承板层叠而成,所述贯通孔包括小径部和直径大于所述小径部的大径部,多块所述电极侧支承板的多个所述贯通孔构成所述电极侧贯通孔,多块所述电极侧支承板中,靠所述连接构件一侧的第一电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述连接构件一侧,该小径部在靠所述连接构件一侧具有扩口部,该扩口部的直径随着靠近所述连接构件而逐渐变大。

根据上述结构,通过在第一电极侧支承板的贯通孔所包括的小径部的靠连接构件一侧(钻孔加工的后方侧)设置扩口部,能清除因钻孔加工而残留在小径部的靠连接构件一侧的毛刺,从而能避免因毛刺的干扰而导致检查夹具的组装效率降低,同时能避免探针与毛刺发生摩擦,从而能稳定地进行电检查。

此外,通过将贯通孔的小径部设置在第一电极侧支承板的靠连接构件一侧,从而便于对探针在水平方向上进行定位,由此即使在对电路基板进行电检查而使探针弯曲的情况下,也能避免相邻的探针间接触的可能性,从而提高电检查的检查精度。

本实用新型的第二方面的检查夹具是在本实用新型的第一方面的检查夹具的基础上,多块所述电极侧支承板中,与所述第一电极侧支承板抵接的第二电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述电极安装部一侧,该小径部在靠所述电极安装部一侧具有扩口部,该扩口部的直径随着靠近所述电极安装部而逐渐变大。

根据上述结构,与上述第一电极侧支承板相同,通过在第二电极侧支承板的贯通孔的小径部的靠电极安装部一侧(钻孔加工的后方侧)设置扩口部,能清除因钻孔加工而残留在小径部的靠电极安装部一侧的毛刺,从而能避免因毛刺的干扰而导致检查夹具的组装效率降低,同时能避免探针与毛刺发生摩擦,从而能稳定地进行电检查。

此外,通过将第二电极侧支承板的贯通孔的大径部设置在靠第一电极侧支承板一侧,将小径部设置在靠电极安装部一侧,从而能使第一电极侧支承板的大径部与第二电极侧支承板的大径部相接,以保证探针在电极侧支承体的贯通孔中具有充分的空间,由此即使在对电路基板进行电检查而使探针弯曲的情况下,也能避免探针与上述贯通孔的壁面接触的可能性,从而提高电检查的检查精度。

本实用新型的第三方面的检查夹具是在本实用新型的第二方面的检查夹具的基础上,所述扩口部的最小直径等于所述小径部的直径,所述扩口部的最大直径小于所述大径部的直径。

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