[实用新型]一种波长测量系统有效

专利信息
申请号: 201720398037.3 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN207007348U 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 张特旭;刘承香 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司11319 代理人: 赵娟
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 波长 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种波长测量系统,其特征在于,包括:

分光模块、双法布里-玻罗干涉标准具模块、线性滤波器、第一光电探测器以及第二光电探测器;

所述分光模块用于将输入的待测激光分成多路,并分别输入到所述线性滤波器、所述第一光电探测器和所述双法布里-玻罗干涉标准具模块;

入射到所述线性滤波器的激光输出到所述第二光电探测器;

所述第一光电探测器测量的光电流和所述第二光电探测器测量的光电流用于计算激光通过线性滤波器的透射率,用以测量初步波长;

所述双法布里-玻罗干涉标准具模块用于测量多个精确波长,所述多个精确波长与所述初步波长用于确定所述待测激光的波长。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述双法布里-玻罗干涉标准具模块包括:第一分光镜、第二分光镜、第一法布里-玻罗干涉标准具、第二法布里-玻罗干涉标准具、第三光电探测器、第四光电探测器、第五光电探测器、第六光电探测器;

入射到所述双法布里-玻罗干涉标准具模块的激光经过所述第一分光镜后,一部分激光被反射进入所述第一法布里-玻罗干涉标准具,另一部分透过所述第一分光镜进入所述第二分光镜;

入射到所述第一法布里-玻罗干涉标准具的激光输出到所述第三光电探测器;

入射到所述第二分光镜的激光,一部分被反射进入所述第二法布里-玻罗干涉标准具,另一部分透过所述第二分光镜输出到所述第四光电探测器;

入射到所述第二法布里-玻罗干涉标准具的激光,一部分通过所述第二法布里-玻罗干涉标准具进入所述第五光电探测器;另一部分被所述第二法布里-玻罗干涉标准具反射,再次进入所述第二分光镜;

由所述第二法布里-玻罗干涉标准具反射进入所述第二分光镜的激光,一部分透过所述第二分光镜进入所述第六光电探测器;

所述第三光电探测器测量的光电流和所述第四光电探测器测量的光电流用于计算激光通过所述第一法布里-玻罗干涉标准具的透射率,用以确定多个第一精确波长;

所述第五光电探测器测量的光电流和所述第六光电探测器测量的光电流用于计算激光通过所述第二法布里-玻罗干涉标准具的透射率,用以确定多个第二精确波长;

所述多个第一精确波长、所述多个第二精确波长,与所述初步波长用于确定所述待测激光的波长。

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

所述分光模块包括:1X4分光器、光耦合器、平面光波导式的分光器件。

4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述第一法布里-玻罗干涉标准具和所述第二法布里-玻罗干涉标准具的透射率谱线的频率周期相同。

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述第一法布里-玻罗干涉标准具和所述第二法布里-玻罗干涉标准具的透射率谱线的频率周期,小于所述线性滤波器的频率误差范围。

6.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述第一法布里-玻罗干涉标准具和所述第二法布里-玻罗干涉标准具之间的透射率谱线的最大值点的位置错开四分之一个频率周期。

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

所述分光模块、所述双法布里-玻罗干涉标准具模块、所述线性滤波器、所述第一光电探测器以及所述第二光电探测器为光纤器件;

所述分光模块与所述线性滤波器通过光纤连接器连接;

所述线性滤波器与所述第二光电探测器通过光纤连接器连接;

所述分光模块与所述第一光电探测器通过光纤连接器连接;

所述分光模块与所述双法布里-玻罗干涉标准具模块通过光纤连接器连接。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述双法布里-玻罗干涉标准具模块还包括光纤准直器,所述光纤准直器用于将光纤连接器输出的入射光转换为准直光。

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