[实用新型]一种太赫兹透镜检测系统有效

专利信息
申请号: 201720382468.0 申请日: 2017-04-13
公开(公告)号: CN206876570U 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 申彦春;赵国忠;周璐 申请(专利权)人: 首都师范大学
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100048 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 赫兹 透镜 检测 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及太赫兹检测领域,尤其涉及一种太赫兹透镜检测系统。

背景技术

太赫兹(THz)辐射是指振荡频率在0.1THz-10THz(1THz=1012Hz)的电磁波,此波段的电磁辐射具有很多独特的性质:1)THz波对很多介电材料和非极性液体有很好的穿透性,因此太赫兹波可以对不透明物体进行透视成像;2)THz波另一个显著特点是它的安全性,它的光子能量很低,对生物体安全;3)THz波段还包含了丰富的光谱信息,具有良好的光谱分辨特性。

由于在相当长时间里太赫兹波源的问题未能很好解决,太赫兹波科学技术的发展受到很大的限制,从而使其应用潜能未能发挥出来。太赫兹波科学技术现在已得到国际学术界的广泛关注,在世纪之交短短数年内,国际上关于太赫兹波的研究机构大量涌现,并取得了很多研究成果。当前太赫兹波的功能器件是太赫兹波科学技术应用中的重点和难点,国内外对于太赫兹波的功能器件研究也已逐渐展开。

目前从辐射源考虑,THz成像技术可分为脉冲波THz成像和连续波THz成像两大类。脉冲波THz时域光谱成像是研究最广泛的THz成像技术,主要是利用超短脉冲激发产生THz脉冲,经过时域到频域的转换得到样品各种信息,然后进行数据处理得到THz图像,此方法产生的THz功率低(微瓦级)、成像速度慢、数据处理繁琐。连续波THz成像技术中,THz源可以采用量子级联激光器,但是量子级联激光器输出频率较高,且需要低温运行;还可以采用返波振荡器,其优点是输出频率可调,但其输出频率太低(<1.5THz);CO2激光抽运连续波激光器也是产生连续波THz的辐射源,可以室温工作,且输出功率较高,可调频率多,易于操作。从成像方法来考虑,THz成像技术可分为扫描成像和实时成像两大类:扫描成像技术对样品上各点逐次扫描,成像速度慢;而THz实时成像主要采用电光晶体,成像速度快、但成像面积小,检测物体面积较大时需要对辐射光进行扩束。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种太赫兹透镜检测系统,解决现有检测系统不能够检测太赫兹透镜且结构复杂的技术问题。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:一种太赫兹透镜检测系统,其特征在于,包括太赫兹波源(1)、准直扩束系统(2)、高阻硅片(3)、氩离子激光器(4)、第一离轴抛物面镜(5)、第二离轴抛物面镜(6)、哈特曼板(7)、太赫兹透镜(8)、第三离轴抛物面镜(9)、太赫兹波探测器(10)和计算机(11);

所述太赫兹波源(1)发射出的光束依次通过所述准直扩束系统(2)、所述高阻硅片(3)、所述第一离轴抛物面镜(5)、所述第二离轴抛物面镜(6)、所述哈特曼板(7)、所述太赫兹透镜(8)和所述第三离轴抛物面镜(9),所述太赫兹波探测器(10)接收从所述第三离轴抛物面镜(9)汇聚的所述光束,所述太赫兹波探测器(10)与所述计算机(11)电连接;

所述氩离子激光器(4)照射到高阻硅片(3)上。

在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。

进一步,所述太赫兹波源(1)为返波振荡器、量子级联激光器或CO2激光抽运连续波太赫兹辐射源。

进一步,所述太赫兹波源(1)工作频率设置为0.1THz-8THz。

进一步,所述的准直扩束系统(2)为开普勒型或伽利略型准直扩束系统。

进一步,所述高阻硅片(3)厚度为500μm,所述高阻硅片(3)半径为30mm,所述高阻硅片(3)电阻率为10000Ω*cm。

进一步,所述太赫兹透镜(8)的材质为聚四氟乙烯。

进一步,所述太赫兹波探测器(10)为焦平面阵列探测器。

进一步,所述太赫兹波探测器(10)为日本NEC公司的I RV-T0831C焦平面阵列相机。

本实用新型的有益效果是:本申请能够对太赫兹透镜进行性能检测,且结构简单、易于实现;利用可调谐氩离子激光是否照射到高阻硅片上,实现对检测装置的开、关控制,能够对显示图像帧数进行控制;利用焦平面阵列探测器及其自带软件对图像进行实时成像显示,探测灵敏度高,实时性好。

附图说明

图1为本实用新型所述一种太赫兹透镜检测系统框图;

图2为本实用新型所述一种太赫兹透镜检测系统哈特曼板采样图;

附图1中,各标号所代表的部件列表如下:

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