[实用新型]一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统有效

专利信息
申请号: 201720353649.0 申请日: 2017-04-06
公开(公告)号: CN206804459U 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 宋超;吴勇军;彭静 申请(专利权)人: 成都华络通信科技有限公司;成都纺织高等专科学校
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42;G01N3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 功率 耦合器 导体 表面 涂层 硬度 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及微波通讯器件生产技术领域,特别涉及一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统。

背景技术

微波功率耦合器作为微波通讯基础元器件,对微波通讯技术发展有着重要作用,其质量对于微波通讯的稳定性和可靠性极为关键。为保证微波功率耦合器的通讯质量,拓展微波功率耦合器的带宽,通常在微波功率耦合器内部装配内导体,内导体表面通常设置有纳米银涂层,用以提升微波信号发射效率。在微波功率耦合器生产过程中,需要对同个生产批次内导体表面的涂层硬度进行检测,以保证内导体表面的涂层硬度符合设计标准。现有技术在进行内导体表面涂层硬度检测时,大多利用硬度计直接检测,而由于内导体通常为圆柱体结构,采用上述方式进行测试时,无法对内导体进行精确固定,此种测试方式,由于无法对内导体进行精准固定,导致测试结果误差极大,且检测效率极低。

基于以上分析,我公司成立项目部,经过长期的现场测试和试验研究,设计一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统,通过设计专用的定位工装对内导体进行精准固定,利用硬度计对内导体表面涂层进行硬度测试,借助力传感器和微位移传感器对对硬度测试结果进行测算,获得精确的测试结果,提高测试效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是,针对现有功率耦合器内导体表面涂层硬度测试存在的技术问题,设计一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统,通过设计专用的定位工装对内导体进行精准固定,利用硬度计对内导体表面涂层进行硬度测试,借助力传感器和微位移传感器对对硬度测试结果进行测算,获得精确的测试结果,提高测试效率。

本实用新型通过以下技术方案实现:

一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统,其特征在于,结构包括刚性底座(1),刚性底座(1)上连接有一级支架(2),一级支架(2)上装配有二级支架(3);

所述刚性底座(1)上设置有用于对待测试内导体(100)进行限位的静态挡块(11)以及用于对待测试内导体(100)进行卡位的动态滑块(12),动态滑块(12)右侧端通过水平推杆连接步进电机(13);

所述二级支架(3)通过二级丝杆(14)连接有用于对待测试内导体(100)进行竖向压紧的竖向压块(17),竖向压块(17)通过竖向压杆(16)与二级丝杆(14)连接;

所述二级丝杆(14)通过二级丝杆螺母(15)装配于二级支架(3)上;二级丝杆(14)顶端连接有用于驱动二级丝杆(14)上下移动的二级伺服电机(18);

所述一级支架(2)上设置有一级丝杆(4),一级丝杆(4)前端依次设置有力传感器(5)、检测杆装配基座(6)和检测杆(7);一级丝杆(4)通过一级丝杆螺母(41)装配于一级支架(2)上;

所述一级丝杆(4)顶部设置有用于驱动一级丝杆(4)上下移动的一级伺服电机(42),一级伺服电机(42)上部设置有微位移传感器(8);

所述微位移传感器(8)的探测端与检测杆装配基座(6)的上端相连接;

所述微位移传感器(8)和力传感器(5)分别连接至PLC控制器。

进一步,所述刚性底座(1)底部设置有高度可调式支撑支脚(101)。

本实用新型提供了一种功率耦合器内导体表面涂层硬度测试系统,与现有技术相比,有益效果在于:

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