[实用新型]X射线荧光元素分布分析用分析盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及X射线分析领域，具体涉及一种X射线荧光元素分布分析用分析盒。

背景技术

XRF定量分析结果是样品分析面各化学成分含量的平均值，现代成分分析经常需要对不均匀的样品表面化学成分的二维分布进行测定，目前的XRF分析设备多数不具备元素分布分析功能。

实用新型内容

本实用新型提供一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，可以使常规XRF分析设备可以分析样品表面化学成分的二维分布。

本实用新型实施例提供一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，包括：

外壳，其用于盛放圆形分析片及待测定样品，外形及底部面罩与仪器自带的样品盒相同；其包括圆形筒和固定在其底部的面罩，所述的面罩为圆环，其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分；

圆形分析片，所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；

所述的圆形分析片上设置有一个通光孔，所述通光孔的直径为d，其中，d与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀、圆形分析片的厚度 t、激发射线的入射角和荧光射线的出射角符合如下关系：第i个圆形分析片上通光孔的圆心与圆形分析片圆心的距离L_i与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀之间符合如下关系：L_i＝(i-1)d₀。

进一步的，所述圆形分析片的板材对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度t_min与荧光射线的出射角圆形分析片密度p和圆形分析片材料对样品待测元素中所测波长最小的荧光X射线质量吸收系数μ之间满足下述关系：

进一步的，所述的圆形分析片的直径D与外壳的内径相同。

进一步的，圆形分析片的个数N为面罩内环半径与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀的比值取整。

进一步的，所述的圆形分析片的材质为银、铜或镍。

与现有技术相比，本实用新型至少具有如下有益效果：

与现有的元素分布分析相比，本实用新型可以利用普通XRF分析设备实现样品表面的逐点分析，设计合理的分析片厚度、通光孔半径、通光孔间距等，可以通过转动分析片和更换分析片对样品表面进行元素分布分析。

附图说明

图1为本实用新型中一种X射线荧光元素分布分析用分析盒的结构示意图；

图2为本实用新型中圆形分析片工作示意图；

图3为本实用新型中样品待测点极坐标示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型的方案做进一步阐述，应当理解，实施例是便于对本实用新型方案的理解，不作为本实用新型保护范围的限定。

图1为一种X射线荧光元素分布分析用分析盒的结构示意图，如图1所示，分析盒包括外壳1，其包括圆形筒和固定在其底部的面罩(图中未示出)，所述的面罩为圆环，其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分，圆形分析片2，所述的圆形分析片2上设置有通光孔3；其中外壳1用于盛放圆形分析片2；圆形分析片2的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；所述的圆形分析片上设置有一个通光孔3，所述通光孔的直径为d，其中，d 与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀、圆形分析片的厚度t、激发射线的入射角和荧光射线的出射角符合如下关系：第n个圆形分析片上通光孔的圆心与圆形分析片圆心的距离L_n与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀之间符合如下关系：L_n＝(n-1)d₀。

以上方案已经可以完成X射线荧光元素分布分析，下面在此基础上给出优选方案：

作为优选，所述的板材对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度t_min与荧光射线的出射角圆形分析片密度p和圆形分析片材料对样品待测元素中所测波长最小的荧光X射线质量吸收系数μ之间满足下述关系：

作为优选，所述的圆形分析片的直径D与外壳的内径相同。

作为优选，圆形分析片的个数N为面罩内环半径与样品二维分布分析要求的最小点直径d₀的比值取整。

作为优选，所述的圆形分析片的材质为银、铜或镍。

分析盒制作步骤及参数确定