[实用新型]X射线荧光元素分布分析用分析盒有效

专利信息
申请号: 201720327044.4 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN207096138U 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 马振珠;刘玉兵;韩蔚;邓赛文;卢娟娟;戴平 申请(专利权)人: 中国建材检验认证集团股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)11348 代理人: 王伟锋,刘铁生
地址: 100024*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射线 荧光 元素 分布 分析
【权利要求书】:

1.一种X射线荧光元素分布分析用分析盒,其特征在于,包括:

外壳,其用于盛放圆形分析片和待测定样品,外形及底部面罩与仪器自带的样品盒相同;其包括圆形筒和固定在其底部的面罩,所述的面罩为圆环,其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分;

圆形分析片,所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9%的厚度,数量为N;

所述的圆形分析片上设置有一个通光孔,所述通光孔的直径为d,其中,d与样品二维分布分析要求的最小点直径d0、圆形分析片的厚度t、激发射线的入射角和荧光射线的出射角符合如下关系:第i个圆形分析片上通光孔的圆心与圆形分析片圆心的距离Li与样品二维分布分析要求的最小点直径d0之间符合如下关系:Li=(i-1)d0

2.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分布分析用分析盒,其特征在于,所述圆形分析片的板材对待测元素最短特征X射线吸收99.9%的厚度tmin与荧光射线的出射角圆形分析片密度p和圆形分析片材料对样品待测元素中所测波长最小的荧光X射线质量吸收系数μ之间满足下述关系:

3.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分布分析用分析盒,其特征在于,所述的圆形分析片的直径D与外壳的内径相同。

4.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分布分析用分析盒,其特征在于,圆形分析片的个数N为面罩内环半径与样品二维分布分析要求的最小点直径d0的比值取整。

5.根据权利要求1所述的X射线荧光元素分布分析用分析盒,其特征在于,所述的圆形分析片的材质为银、铜或镍。

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