[实用新型]一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具

说明书

技术领域

本实用新型属于一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具。

背景技术

芯片电容器在生产过程中需要对产品进行电容量、损耗角正切、绝缘电阻、介质耐电压及温度特性等电性能测试，以保证产品的质量一致性、环境适应性及可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到测试基板上，再进行试验。这种做法易对产品易造成破坏，且无法重复利用、测试精确度低等缺点。同时，旧测试夹具只能进行单项电性能试验，无法进行切换。在电容器进行电性能测试过程中，传统夹具不易安放电容且易损伤电容表面的金层电极，影响测试的可靠性及结果；且在高低温测试过程中测试顶端与电容器容易发生接触不良，导致测量失效，从而无法准确测试电容器的各项电性能。每次测试失效，需要重复进行，甚至重新焊接产品，影响了测试效率。尤其是，无法准确有效地测试小尺寸产品。

因电容器体积过小，最小尺寸仅0.15mm×0.15mm×0.05mm，产品电极表面为金电极，传统测试夹具易损伤其镀金层，影响其电性能，同时产品焊接到测试基板上，完成某项性能测试后，无法取下进行其他项目的测试，需要重新焊接。

因此，传统夹具存在极大的缺陷及不完善。

实用新型内容

实用新型目的：本实用新型提供一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，该夹具测试效率高、检测准确度高、操作简便。

技术方案：一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。

具体地，所述第二探针固定板上设有若干个用于固定探针的若干个固定孔。

具体地，所述弹簧探针与第一探针固定板为焊接连接。

具体地，所述第二探针固定板上设有四个用于锁定固定螺杆的固定孔。

具体地，所述PCB板与上保护盖和下保护盖为固定连接。

有益效果：与现有技术相比，本实用新型的优点在于：该夹具为非破坏性测试，测试夹具可以重复应用，对电容器金层及基体无损伤，简化了操作，测试精确度高；同时因减少了焊接步骤，提高了测试效率，降低了测试成本；探针固定在第二探针固定板上后，形成凹字形结构，此凹字形结构起定位槽的作用，使电容器放置进去后不易挪动；弹簧探针和第一探针固定板焊接连接，产品放入弹簧探针和探针之间后，承受到弹簧力而固定，产品测试完后还可以取出进行其他项目的测试；与现有测试技术比较，本申请能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性，以及对产品的防护性；不仅大大提高了测试的准确性，而且操作也十分简单方便，提高了测试效率；可以一次性进行多只产品的测试，而且工位可以根据需求添加。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本实用新型。

如图1所示，一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖1、PCB板2、第一探针固定板3、弹簧探针4、探针6、固定螺杆7、第二探针固定板8、下保护盖10，上保护盖1下侧设有带屏蔽的PCB板2，在该PCB板2下侧设有第一探针固定板3；第一探针固定板3上插入若干个弹簧探针4延伸至PCB板2；弹簧探针4与第一探针固定板3为焊接连接；下保护盖10上侧设有带屏蔽的PCB板2，在该PCB板2上侧设有第二探针固定板8；第二探针固定板8上设有若干个用于固定探针6的若干个固定孔，探针6插入若干个固定孔内延伸至PCB板2；第二探针固定板8的四个角上设有四个固定孔，固定孔上设有固定螺杆7；PCB板2与上保护盖1和下保护盖10为固定连接。

本实用新型主要用于解决芯片电容器的电性能测试，包括电容器的电容量、损耗角正切、绝缘电阻、介质耐电压及温度特性等，测试功能多样；此夹具可以测试电容尺寸从0.15mm×0.15mm×0.05mm到5mm×5mm×2mm，可以覆盖全系列芯片电容器。

测试夹具上弹簧探针和探针作为测试探头，经过特殊的金属化工艺处理，表面为硬化镀金层，不易氧化及磨损，与电容器的金电极相匹配，测试更准确，一致性更好。