[实用新型]一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具有效
| 申请号： | 201720325496.9 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN206671370U | 公开（公告）日： | 2017-11-24 |
| 发明（设计）人： | 潘甲东;韩玉成;王利凯;刘剑林;严勇 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团云科电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 昆明合众智信知识产权事务所53113 | 代理人： | 张玺 |
| 地址： | 550000 贵州省*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 电容器 性能 测试 多功能 夹具 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述第二探针固定板上设有若干个用于固定探针的若干个固定孔。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述弹簧探针与第一探针固定板为焊接连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述第二探针固定板上设有四个用于锁定固定螺杆的固定孔。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述PCB板与上保护盖和下保护盖为固定连接。
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