[实用新型]一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统有效

专利信息
申请号: 201720306091.0 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN206671213U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 薛春花;王文涛;陈志列 申请(专利权)人: 研祥智能科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 张瑾
地址: 518107 广东省深圳市光*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 机器 视觉 缺陷 检测 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及机械工程照明技术领域,尤其涉及一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统。

背景技术

磁瓦是一种瓦状铁氧体永磁材料,广泛应用于永磁直流电机中,其作用是代替磁绕组产生磁场,是永磁电机的重要组成部件,在汽车、家电、电动工具等工业领域应用广泛,需求量巨大。磁瓦质量的好坏对永磁电机的性能有很大的影响,因此对不合格磁瓦进行分拣具有重要的经济价值。

目前磁瓦缺陷检测主要依靠工人以肉眼分辨检测,劳动强度大,人员易疲劳,误检率较高,无法实现自动化和智能化;同时,当磁瓦弧度较大时,磁瓦缺陷检测设备也因景深大、成像效果差、取相难度大等原因难以实现正确分拣。

因而,亟需设计一种取相可靠而全面的磁瓦检测取相系统,对实现磁瓦缺陷自动检测尤为重要。

实用新型内容

本实用新型提供的基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统,能够克服现有技术的不足,在磁瓦的多个表面全面打光,进行准确的取相,从而实现磁瓦缺陷的自动检测。

第一方面,本实用新型提供一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统,包括用于对磁瓦的内/外弧面进行打光和取相的内/外弧面磨歪检测取相模块;用于对所述磁瓦的外弧面进行打光和取相的1/2外弧面其他缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的内弧面进行打光和取相的内弧面其他缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的边面进行打光和取相的边面缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的端面进行打光和取相的端面缺陷检测取相模块;其特征在于,所述内/外弧面磨歪检测取相模块包括:

第一条光源,所述第一条光源包括左侧第一条光源和右侧第一条光源,所述左侧第一条光源和所述右侧第一条光源与所述磁瓦的直边中点连线所在垂直平面夹锐角对称;

第一相机,用于拍摄所述磁瓦的内/外弧面,且位于所述磁瓦的内/外弧面几何中心的正上方;

其中,所述磁瓦位于所述第一条光源的光源区域中央。

可选地,上述第一条光源与所述磁瓦的直边中点连线所在垂直平面的相对位置和夹角均可调。

可选地,上述磁瓦缺陷检测取相系统包括关于所述磁瓦的弧边法线所在平面对称的两个所述1/2外弧面其他缺陷检测取相模块。

可选地,上述1/2外弧面其他缺陷检测取相模块包括:

第二条光源,所述第二条光源包括左侧第二条光源和右侧第二条光源,所述左侧第二条光源和所述右侧第二条光源与所述磁瓦弧边1/4圆弧法线所在的平面夹锐角对称;

第一圆顶光源,位于所述磁瓦上方的所述磁瓦弧边1/4圆弧法线方向;

第二相机,用于拍摄所述磁瓦的外弧面,且位于所述磁瓦上方的所述磁瓦弧边1/4圆弧法线方向以及所述第一圆顶光源的上方;

其中,所述磁瓦位于所述第二条光源和所述第一圆顶光源的光源区域中央,所述第二相机的镜头中心与所述第一圆顶光源的中心重合。

可选地,上述第二条光源与所述磁瓦弧边的1/4圆弧法线所在平面的相对位置和夹角均可调,所述第一圆顶光源与所述磁瓦弧边的1/4圆弧法线的相对位置可调。

可选地,上述内弧面其他缺陷检测取相模块包括:

第三条光源,所述第三条光源包括左侧第三条光源和右侧第三条光源,所述左侧第三条光源和所述右侧第三条光源与所述磁瓦弧边1/2圆弧法线所在平面夹锐角对称;

第一同轴光源,位于所述磁瓦上方的所述磁瓦弧边1/2圆弧法线方向;

第三相机,用于拍摄所述磁瓦的内弧面,位于所述磁瓦上方的所述磁瓦弧边1/2圆弧法线方向以及所述第一同轴光源的上方;

其中,所述磁瓦位于所述第三条光源和所述第一同轴光源的光源区域中央,所述第三相机的镜头中心与所述第一同轴光源的中心重合。

可选地,上述第三条光源与所述磁瓦弧边1/2圆弧法线所在平面的相对位置和夹角均可调,所述第一同轴光源与所述磁瓦弧边1/2圆弧法线的相对位置可调。

可选地,上述边面缺陷检测取相模块包括:

第四条光源,所述第四条光源包括左侧第四条光源和右侧第四条光源,所述左侧第四条光源和所述右侧第四条光源分别与所述磁瓦的左右边面平行;

第四相机,用于拍摄所述磁瓦的边面,位于所述磁瓦弧面的几何中心的正上方;

其中,所述磁瓦的边面位于所述第四条光源的光源区域中央。

可选地,上述第四条光源与所述边面所在平面的相对位置和夹角均可调。

可选地,上述端面缺陷检测取相模块包括:

第二同轴光源,与所述磁瓦的端面平行;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于研祥智能科技股份有限公司,未经研祥智能科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720306091.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top