[实用新型]光学检查设备

权利要求书

1.一种光学检查设备，其特征在于，该设备包括：

一光源装置，沿一入射光轴照射一待测物并在该待测物的一脏污形成漫反射光；

一滤光装置；以及

一影像捕获设备，沿一漫反射光轴接收通过该滤光装置的该漫反射光，该漫反射光轴与该入射光轴相对于该待测物的一法线呈不对称，其中，该滤光装置仅允许沿该漫反射光轴的该漫反射光通过该滤光装置。

2.如权利要求1所述的光学检查设备，其特征在于，该滤光装置包括一顶面、一底面及一漫反射通道，该漫反射通道贯穿该顶面及该底面，该漫反射光轴通过该漫反射通道。

3.如权利要求2所述的光学检查设备，其特征在于，该滤光装置包括一入射通道，该入射通道贯穿该顶面及底面，且供该入射光轴通过，并与该底面形成一第一锐角，该漫反射通道与该底面形成一第二锐角，该第一锐角的角度与该第二锐角的角度不相同。

4.如权利要求3所述的光学检查设备，其特征在于，该第一锐角的角度介于50-75度之间，该第二锐角的角度介于50-80度之间。

5.如权利要求3所述的光学检查设备，其特征在于，该滤光装置包括一定位系统，该光源装置沿该入射光轴照射该待测物并在该待测物上形成反射光，该影像捕获设备接收通过该定位系统的反射光。

6.如权利要求5所述的光学检查设备，其特征在于，该定位系统包括贯穿该顶面及该底面的一第一定位通道及一第二定位通道，该第一定位通道与该入射通道相互连通，该第二定位通道与该漫反射通道相互连通，该第一定位通道及该第二定位通道位于该滤光装置相同侧边。

7.如权利要求1所述的光学检查设备，其特征在于，该滤光装置包括一定位系统，该光源装置沿该入射光轴照射该待测物并在该待测物上形成反射光，该影像捕获设备接收通过该定位系统的反射光。

8.如权利要求1所述的光学检查设备，其特征在于，该光源装置包括一发光二极管。