[实用新型]一种四探针薄膜电阻测试装置有效

专利信息
申请号: 201720223626.8 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN206876768U 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 陈清明;张亚林;张辉 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 探针 薄膜 电阻 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种四探针薄膜电阻测试装置,其特征在于,包括绝缘块(1)、钢丝(2)、上板(3)、下板(6)、螺栓(7)、铜管(8)、底板(10)、端板(11)、压块(12),铜管(8)一端连接测试用的设备,另一端连有底板(10),底板(10)上设有绝缘块(1)、下板(6),下板(6)上设有上板(3),四根钢丝(2)从铜管(8)内穿出来后再穿过绝缘块(1),钢丝(2)再穿过上板(3),钢丝(2)在上板(3)端部被压块(12)固定后穿出上板(3),四根钢丝(2)穿出上板(3)后向下板(6)的方向弯折,上板(3)和下板(6)通过螺栓(7)连接,底板(10)的另一端设有端板(11)。

2.根据权利要求1所述四探针薄膜电阻测试装置,其特征在于,所述四根钢丝(2)穿出上板(3)后的部分向下板(6)的方向弯折,钢丝(2)端部折成弯钩状探针(4),弯钩的锐角为15-30°。

3.根据权利要求1所述四探针薄膜电阻测试装置,其特征在于,还设有铜管套头(9),铜管套头(9)与铜管(8)螺纹连接,将装置套在其内部。

4.根据权利要求1所述四探针薄膜电阻测试装置,其特征在于,所述钢丝(2)固定在上板(3)底部。

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