[实用新型]一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种试样的打磨抛光夹持工具，特别是适用于用于超小尺寸易碎试样的专用装夹工具。

背景技术

多数材料在制造加工过程中，需要对产品的质量、性能进行控制及研究，如陶瓷试样在进行扫描电镜测试之前，常常需要经过打磨抛光和腐蚀，对于硬度较高的陶瓷材料可以采用镶样、打磨、腐蚀，之后破碎取样的方法，但有些功能陶瓷的价值在于其电学、光学性能，其本身的强度硬度并不高，所以镶样后破碎容易使陶瓷样品遭到破坏；另外，由于扫描电镜测试对样品的尺寸也有要求，一般都要在几个毫米的范围内，用手指拿捏打磨抛光不方便，时间长了容易疲劳，拿捏不稳而影响打磨抛光效果，影响打磨精度，同时手指容易擦伤。

综上所述，对于超小尺寸易碎试样的打磨抛光是扫描电镜试样制备的必要步骤，且打磨抛光质量对扫描电镜测试的质量有直接影响。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，在不镶样的前提下能够夹持超小尺寸易碎试样在磨抛机上打磨抛光，且能降低操作时造成擦伤的几率。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，它包括夹持件和推压装置，夹持件由夹持端和夹头构成的小钳形工具，推压装置包括位于推压座的滑槽中的推压柱，推压装置的推压座固定于夹持件的夹头处。通过施加夹持件上夹持端的握力使夹头夹紧试样，推动推压装置上的推压柱，推压柱在推压座的滑槽中滑动逐渐靠近夹持试样。

进一步地，打磨抛光时，继续推动推压柱，所夹持的试样逐渐靠近磨抛机进行打磨抛光，操作时手不直接接触试样，有效防止手指与试样一起打磨抛光而受到擦伤。

更进一步地，试样同时受到夹头的夹持力和推压柱的推压力，试样被夹紧的同时受力面积更大，打磨抛光效果更好、精度更高，更适用于易碎试样的打磨抛光，不易破坏试样原有的性能。

夹持件的夹头为尖头、平头、弯头或扁头。便于夹取不同形状的试样。

推压装置的推压座与夹持件的夹头的固定方式为铆接、焊接或粘接。

进一步地，夹头为金属件，与推压座的固定方式为焊接或铆接，连接更牢靠。

进一步地，夹头为非金属件，与推压座的固定方式为铆接或粘接，连接更方便。

推压座设有连接件，连接件上设有调节孔和至少一个贯通于调节孔的螺纹孔，调节孔可套入夹持件的夹头并进行滑动，限位螺钉穿过螺纹孔与夹头紧固。推压座与夹持件的连接更方便，可根据需要随意更换夹持件，便于夹取不同试样。

夹持件为各种不同金属镊子的小钳形工具。直接选用镊子作为夹持件，镊子本身就具有夹取物件的功能，通用性和互换性更好。

推压柱底部与试样接触部分包括多个不同尺寸和规格，根据夹持物大小、形状或不同的材料可随意更换。操作灵活、方便快捷。

进一步地，进一步地，所述的推压柱底部与试样接触部分的最小横截面在0.2~5mm之间，包括平底推压柱、插片推压柱、凹槽推压柱、球形推压柱、三角推压柱、锥形推压柱、花纹推压柱。更适用于不同型号的易碎材料和超小试样。

本实用新型提供的一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，由夹持件和推压装置相互连接而成，通过施加夹持件上夹持端的握力使夹头夹紧试样，推动推压装置上的推压柱，推压柱在推压座的滑槽中滑动逐渐靠近夹持试样；打磨抛光时，继续推动推压柱，所夹持的试样逐渐靠近磨抛机进行打磨抛光操作时手不直接接触试样，有效防止手指与试样一起打磨抛光而受到擦伤。试样同时受到夹头的夹持力和推压柱的推压力，试样被夹紧的同时受力面积更大，打磨抛光效果更好，打磨精度更高，更适用于易碎试样的打磨抛光，不易破坏试样原有的性能。克服了原由手捏拿试样打磨抛光因捏拿不稳而造成擦伤手指、效率低下、影响打磨抛光效果和打磨精度的问题。该结构可对超小尺寸易碎试样进行夹持打磨抛光，无需手指直接接触试样，具有打磨抛光效率高、效果更好、精度高、不擦伤手指的特点，且不易破坏试样原有的性能。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为本实用新型另一种实施例的立体结构示意图。

图3为本实用新型的推压座设有连接件的立体结构示意图。

图4为本实用新型的推压柱其中一种结构示意图。

图5为本实用新型的推压柱另一种结构示意图。

图6为本实用新型的推压柱另一种结构示意图。

图7为本实用新型工作状态示意图。