[发明专利]射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统

说明书

本发明实施例提供一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统，上述射频功率时域测量系统包括：示波器，计算机，待测板微带线和功率探头；功率探头和待测板微带线相对放置，功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线，且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上；功率探头通过符合测试要求的传输线分别接示波器的第一通道、第二通道，在向待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时，示波器采集功率探头的功率输出信号，此时，功率探头的输出波形延时可以忽略，计算机根据功率输出信号获得待测板的射频功率。这种非接触式测量方法，可以在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量，方便测试。

技术领域

本发明涉及射频功率频域测量技术领域，特别是涉及一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统。

背景技术

功率时域测量，指测量功率参量随时间的变化数据。目前，多采用接触式测量系统进行功率时域测量，但发明人在实现过程中，发现传统技术至少存在以下缺陷：传统的测试系统因需直接接触被测点，所以要充分考虑不干预被测系统，多需要修改系统或停止系统进行功率时域测试，测试不方便。随着测试对象的日益复杂，希望在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量。

发明内容

基于此，有必要针对测试不方便的问题，提供一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统。

一方面，本发明实施例提供一种射频功率时域测量系统，包括：

示波器，计算机，待测板微带线和功率探头；

功率探头和待测板微带线相对放置，功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线，且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上；

功率探头通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接；示波器用于在向待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时采集功率探头的功率输出信号；

计算机与示波器的输出端相连，且计算机用于根据功率输出信号获得待测板的射频功率。

在其中一个实施例中，射频功率时域测量系统，还包括夹具，支架和样品台；

待测板微带线固定在样品台上；

夹具安装在支架上，且用于固定功率探头，使功率探头垂直于待测板微带线，且使功率探头线圈投影在待测板微带线上。

在其中一个实施例中，功率探头线圈平面与待测板微带线平行，功率探头线圈中心投影在待测板微带线的中心处。

在其中一个实施例中，待测板微带线两端通过SMA焊接在待测板上；

待测板微带线一端连接负载，另一端用于接收符合测试频率要求的测量信号。

在其中一个实施例中，功率探头包括电压探头和电流探头；电流探头和电压探头分别通过符合测试要求的传输线与示波器的第一通道和第二通道连接。

在其中一个实施例中，电流探头包括采样线圈和第一SMA头射频连接器，采样线圈通过第一SMA头射频连接器与示波器的第一通道连接，采样线圈用于采集待测板微带线的第一输出电压；

电压探头包括单极子探测结构和第二SMA头射频连接器，单极子探测结构通过第二SMA头射频连接器与示波器的第二通道连接，单极子探测结构用于采集待测板微带线的第二输出电压。

另一方面，本发明实施例还提供了一种射频功率时域测量校准系统，包括：

校准测量装置和上述射频功率时域测量系统；

校准测量装置分别接功率探头和校准微带线；校准测量装置用于为校准微带线提供测量信号并获得校准微带线的校准参数，其中，校准参数用于对待测板的待测射频功率进行测量校准。