[发明专利]采用氧化铟锡作为插入层的反射镜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201711485762.5 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108198925A 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 刘喆;梁冬冬;薛斌;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/40 分类号: H01L33/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 氧化铟锡 反射镜 外延片 制备 蒸镀 化学腐蚀 插入层 退火 等离子体轰击 制备工艺条件 高热稳定性 出光效率 高反射率 金属蒸镀 欧姆接触 退火处理 低阻抗 金属层 延片 芯片 金属
【权利要求书】:

1.一种采用氧化铟锡作为插入层后蒸镀金属的反射镜的制备方法,其包括以下步骤:

步骤1、在外延片上蒸镀一层氧化铟锡ITO,并对蒸镀上氧化铟锡的外延片进行退火处理;

步骤2、将退火后附有氧化铟锡的外延片进行化学腐蚀的处理;

步骤3、化学腐蚀之后,对外延片的表面进行等离子体轰击处理;

步骤4、经过表面处理之后进行金属蒸镀形成反射镜。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤1中,蒸镀氧化铟锡时采用电子束蒸发的方法,反应条件包括:温度为150℃至300℃,压强为1*10-5Torr至1*10-8Torr。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其中,生成氧化铟锡的厚度为500A至2000A之间。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤1中,进行退火时的退火条件为:在流动氮气的情况下,温度300℃至800℃,时间20min至40min。

5.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤2中,进行化学腐蚀的具体步骤为:将外延片放置在BOE溶液中浸泡30s至90s后快速取出,用去离子水冲洗干净。

6.根据权利要求1或5所述的制备方法,其中,通过BOE溶液腐蚀外延片表面的ITO层,部分去除ITO,在外延片表面形成了岛状的ITO残余,经过BOE溶液腐蚀后的氧化铟锡表面的起伏在10nm至40nm之间。

7.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤3中,对外延片的表面进行等离子体轰击处理的条件包括:能量为200W至400W,时间为2min至4min。

8.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤4中,蒸镀的金属包括:银Ag、铝Al、或金Au,蒸镀金属时采用电子束蒸镀的方法,反应条件包括:压强为1*10-5Torr至1*10-8Torr,温度为100℃至400℃。

9.根据权利要求1所述的制备方法,其中,所述外延片的结构包括:衬底、n型氮化物、多层氮化物量子阱、p型氮化物。

10.一种根据权利要求1-9任一项所述的制备方法制备的反射镜,其结构自下而上包括:外延片,ITO层,金属层。

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