[发明专利]采用氧化铟锡作为插入层的反射镜及其制备方法在审
申请号: | 201711485762.5 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108198925A | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 刘喆;梁冬冬;薛斌;王军喜;李晋闽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化铟锡 反射镜 外延片 制备 蒸镀 化学腐蚀 插入层 退火 等离子体轰击 制备工艺条件 高热稳定性 出光效率 高反射率 金属蒸镀 欧姆接触 退火处理 低阻抗 金属层 延片 芯片 金属 | ||
1.一种采用氧化铟锡作为插入层后蒸镀金属的反射镜的制备方法,其包括以下步骤:
步骤1、在外延片上蒸镀一层氧化铟锡ITO,并对蒸镀上氧化铟锡的外延片进行退火处理;
步骤2、将退火后附有氧化铟锡的外延片进行化学腐蚀的处理;
步骤3、化学腐蚀之后,对外延片的表面进行等离子体轰击处理;
步骤4、经过表面处理之后进行金属蒸镀形成反射镜。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤1中,蒸镀氧化铟锡时采用电子束蒸发的方法,反应条件包括:温度为150℃至300℃,压强为1*10-5Torr至1*10-8Torr。
3.根据权利要求2所述的制备方法,其中,生成氧化铟锡的厚度为500A至2000A之间。
4.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤1中,进行退火时的退火条件为:在流动氮气的情况下,温度300℃至800℃,时间20min至40min。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤2中,进行化学腐蚀的具体步骤为:将外延片放置在BOE溶液中浸泡30s至90s后快速取出,用去离子水冲洗干净。
6.根据权利要求1或5所述的制备方法,其中,通过BOE溶液腐蚀外延片表面的ITO层,部分去除ITO,在外延片表面形成了岛状的ITO残余,经过BOE溶液腐蚀后的氧化铟锡表面的起伏在10nm至40nm之间。
7.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤3中,对外延片的表面进行等离子体轰击处理的条件包括:能量为200W至400W,时间为2min至4min。
8.根据权利要求1所述的制备方法,其中,在步骤4中,蒸镀的金属包括:银Ag、铝Al、或金Au,蒸镀金属时采用电子束蒸镀的方法,反应条件包括:压强为1*10-5Torr至1*10-8Torr,温度为100℃至400℃。
9.根据权利要求1所述的制备方法,其中,所述外延片的结构包括:衬底、n型氮化物、多层氮化物量子阱、p型氮化物。
10.一种根据权利要求1-9任一项所述的制备方法制备的反射镜,其结构自下而上包括:外延片,ITO层,金属层。
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