[发明专利]一种阵列基板及其制备方法有效
申请号: | 201711461754.7 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108155196B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 袁文豪 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/768;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制备 方法 | ||
本发明提供一种阵列基板及其制备方法,其中,阵列基板包括:衬底基板;形成在衬底基板上的金属层;形成在衬底基板和金属层上的钝化层;形成在钝化层上的平坦层;通过对金属层上的平坦层和钝化层进行刻蚀形成的接触孔,金属层至少部分地暴露于接触孔,接触孔在钝化层处的孔壁与在平坦层处的孔壁处于同一平面或者形成一钝角;形成在平坦层以及接触孔处的连续的像素电极层,所述像素电极层与金属层相连接。本发明通过对金属层上的平坦层和钝化层进行两步刻蚀,使接触孔在钝化层处的孔壁与在平坦层处的孔壁处于同一平面或者形成一钝角,解决了现有技术中因出现底切导致像素电极层断裂的问题。
技术领域
本发明涉及屏幕显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板及其制备方法。
背景技术
随着LCD面板阵列基板(Array)段的制程中,越来越多应用COA(彩膜层集成到阵列基板,Color filter on Array)、POA(光阻间隔物集成到阵列基板,Photo spacer onArray)等新技术,需要引入PFA(polymer film on array)工艺来制备平坦层,优化膜层表面平坦度。
请参照图1所示,通常的阵列基板制作过程是:首先在衬底基板1´上沉积形成金属层11´,然后在衬底基板1´和金属层11´上形成钝化层12´,再在钝化层12´上形成平坦层13´,对平坦层13´和钝化层12´进行刻蚀形成接触孔15´。钝化层12´通常由SiNx等材料制成,由于平坦层13´和钝化层12´的刻蚀速度不相同,一般来说平坦层13´的刻蚀速度较钝化层12´慢,而且通过PFA工艺形成的平坦层13´在刻蚀后会保留在衬底基板1´上,使得刻蚀后平坦层13´的边缘比钝化层12´的边缘更突出,接触孔15´的孔壁不连续,最终形成底切(undercut)10´。
接下来沉积像素电极层14´时,请在参照图2所示,由于平坦层13´的边缘与钝化层12´的边缘之间形成有底切10´,导致该处的像素电极层14´容易发生断裂。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种阵列基板及其制备方法,以避免沉积的像素电极层发生断裂。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种阵列基板,包括:
衬底基板;
形成在所述衬底基板上的金属层;
形成在所述衬底基板和所述金属层上的钝化层;
形成在所述钝化层上的平坦层;
通过对所述金属层上的平坦层和所述钝化层进行刻蚀形成的接触孔,所述金属层至少部分地暴露于所述接触孔,所述接触孔在所述钝化层处的孔壁与在所述平坦层处的孔壁处于同一平面或者形成一钝角;
形成在所述平坦层以及所述接触孔处的连续的像素电极层,所述像素电极层与所述金属层相接触。
其中,所述接触孔在所述钝化层处的孔壁形成一台阶,包括平行于所述衬底基板的第一孔壁,以及自所述第一孔壁朝向所述金属层倾斜并与其相接的第二孔壁,所述第一孔壁与所述接触孔在所述平坦层处的孔壁形成一钝角。
其中,所述钝化层材质为SiNx、SiOx、SiOxNy中的任一种。
本发明还提供一种阵列基板的制备方法,包括:
提供一衬底基板;
在所述衬底基板上依次形成金属层、钝化层和平坦层;
对所述金属层上的平坦层和钝化层分两步进行刻蚀形成接触孔,使所述金属层至少部分地暴露于所述接触孔,所述接触孔在所述钝化层处的孔壁与在所述平坦层处的孔壁处于同一平面或者形成一钝角;
在所述平坦层及所述接触孔处形成连续的像素电极层,所述像素电极层与所述金属层相接触。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711461754.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:显示设备
- 下一篇:系统级封装图像传感器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的