[发明专利]电路板故障检测方法及设备

说明书

本发明提供一种电路板故障检测方法，步骤：设置上电时长以及掉电后的检测时长；设置获取红外能量数据的周期数M和/或每个周期获取红外能量数据的次数N；获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；对标准电路板进行相同处理得到差值红外能量数据；以及将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，即可找到异常点。

技术领域

本发明涉及一种电路板检测方法及设备，更具体地，涉及一种适合于如智能手机、智能手表等通过弱电流的电路板的故障检测方法及设备。

背景技术

当下智能机械、智能手机、智能手表等产业发展尤为迅速，特别是智能手机。庞大的智能设备增长需求，同样扩大了各式各样的电路板的使用增长。面对数量级极大的电路板，故障问题的排查和合格率的保证，成了各大厂家必须面对的难题。

常见的PCB电路板故障主要集中在元器件上面，像电容、电阻、电感、二极管、三极管等。有些电子元器件的损坏能用肉眼观察到，而如上所述电阻、电容、二三极管等，在一些情况下损坏无法从表面看出来，需要借助专业的检查工具如万用表、电容表等进行检测。

在正常范围内，元器件损坏时，用肉眼观察和仪器检测，都能够检测出来。但是有时候会遇到检测不出问题，而电路板又无法正常工作的情况。这种情况，很多时候是由于元器件在安装过程中，各个元器件不协调工作的问题，从而出现性能不稳定。

更重要的是，当前智能手机等设备的电路板面积小，通过电流弱，通电负载低，并且生产产品数量巨大，通过传统的电路板检测方式，通过肉眼或特定设备逐个检测很难满足数量巨大的、流水线模式的检测。

目前已有使用红外热成像设备对电路板进行检测的现有技术，其均是将检测电路板升温或通电时的温度与标准板的温度进行对比，从而找出异常点。然而，这种红外热成像检测技术并不适用于智能手机等通过弱电流的电路板的检测。因为这些电路板面积小，通过电流弱，功耗小，将检测电路板与标准板的温度直接对比，温度差异较小，找不出温度异常点。

因此，需要一种弱电流电路板的故障检测方法及设备。

发明内容

技术问题

本发明是为了解决上述问题而提出的，其目的在于提供一种电路板故障检测方法及设备，通过红外热成像设备检测同一电路板的发热情况来检测故障，从而检测产品缺陷部件。针对类似智能手机，负载微弱电流出现的故障问题进行有效的诊断。

技术方案

根据本发明的一方面，提供一种电路板故障检测方法，其特征在于，所述方法包括步骤：步骤1：设置上电时长以及掉电后的检测时长，一个上电时长和一个掉电后的检测时长构成一个周期；步骤2：设置获取红外能量数据的周期数M和/或每个周期获取红外能量数据的次数N，其中，N和M都是大于或等于1的整数；步骤3：获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；步骤4：获取标准电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；以及步骤5：将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，即可找到异常点。