[发明专利]电路板故障检测方法及设备

权利要求书

1.一种电路板故障检测方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

步骤1：设置上电时长以及掉电后的检测时长，一个上电时长和一个掉电后的检测时长构成一个周期；

步骤2：设置获取红外能量数据的周期数M和/或每个周期获取红外能量数据的次数N，其中，N和M都是大于或等于1的整数；

步骤3：获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；

步骤4：获取标准电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；以及

步骤5：将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，即可找到异常点，

其中，上电峰值红外能量数据是电路板温度达到稳定时的红外能量数据，掉电期间红外能量数据是掉电后的检测时长期间的红外能量数据。

2.根据权利要求1所述的电路板故障检测方法，其特征在于，当M等于1时，在步骤3，获取测试电路板的每个像素点的N个上电前时刻红外能量数据和/或N个掉电期间红外能量数据以及一个周期内的N个上电峰值红外能量数据，将N个上电峰值红外能量数据和N个上电前时刻红外能量数据或N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加得到差值红外能量数据，并且在步骤4，获取标准电路板的每个像素点的N个上电前时刻红外能量数据和/或N个掉电期间红外能量数据以及一个周期内的N个上电峰值红外能量数据，将N个上电峰值红外能量数据和N个上电前时刻红外能量数据或N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加得到差值红外能量数据。

3.根据权利要求1所述的电路板故障检测方法，其特征在于，优选地，M等于2。

4.根据权利要求1所述的电路板故障检测方法，其特征在于，同一周期的上电时长和掉电后的检测时长相同或不同；不同周期的上电时长相同，掉电后的检测时长相同。

5.一种电路板故障检测设备，其特征在于，所述设备包括：

电源，被配置为连接到测试电路板或标准电路板，并且所述电源包括电源控制器，设置上电时长以及掉电后的检测时长，一个上电时长和一个掉电后的检测时长构成一个周期，按照周期上电、掉电；

红外热成像设备，被配置为用于获取红外能量数据；

存储模块，被配置为与红外热成像设备连接，用于存储从红外热成像设备获取的红外能量数据，并且获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，以及获取标准电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据；

数据处理模块，被配置为：

将测试电路板的每个像素点的每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据，

将标准电路板的每个像素点的每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据，

将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，找到异常点。

6.根据权利要求5所述的电路板故障检测设备，其特征在于，所述设备还可以包括显示器，对红外热成像设备检测的红外热图和/或采集的数据和/或处理结果进行显示。