[发明专利]一种基片式温度应变测量FBG传感器及性能测试方法在审
| 申请号: | 201711441571.9 | 申请日: | 2017-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN107907069A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
| 发明(设计)人: | 祝连庆;鹿利单;董明利;娄小平;孙广开;何巍;李红 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
| 主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01K11/32;G01K15/00 |
| 代理公司: | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11416 | 代理人: | 顾珊,庞立岩 |
| 地址: | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基片式 温度 应变 测量 fbg 传感器 性能 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及FBG温度传感器技术领域,具体为一种基片式温度应变测量FBG传感器及性能测试方法。
背景技术
光纤材料是二氧化硅,一种脆性易碎材料,韧性差、剪切能力弱,对其进行保护显得尤为重要,封装工艺对FBG传感性能有很大影响。探索FBG传感器增敏和去敏的可能方式、以及封装、粘附技术和新结构工艺尤为重要。
现有的FBG温度传感器,其对温度具有较强的敏感性,在生产过程中不易对其性能进行控制,在某些特殊情况,希望同时测量应变与温度,且温度应变同时增敏,满足不了用户的需求,使用具有局限性。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种基片式温度应变测量FBG传感器及性能测试方法,解决了背景技术中提出的困难问题。
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种基片式温度应变测量FBG传感器,其特征在于:包括基片、第一FBG第二FBG;所述第一FBG第二FBG从左到右依次设置在基片上;所述第一FBG通过DP420胶水与基板之间进行粘接,所述第二FBG通过353ND胶水与基板之间进行粘接;所述基片上分别均匀开设有固定孔。
作为本发明的进一步优选方案,传感器封装具体包括如下步骤:
步骤1、用砂纸将基片两端圆孔周围按照与第一FBG固定轴线呈45°方向打磨,用脱脂棉蘸酒精洗净备用;
步骤2、选取中心波长为1548.620nm的第一FBG与中心波长为1552.012nm的第二FBG,同时将加热台温度加热到80℃,将基片放置到加热台上,维持好加热台的温度;
步骤3、了防止353ND胶水流动,将导热硅脂涂覆到第二FBG3固定点旁边,为了防止高温下353ND胶水固化后预紧力会减少,第二FBG中心波长增加2nm;
步骤4、待第二FBG中心波长数值相对稳定后,用DP420胶水以覆盖式固定将第一FBG与基片进行固定,固化完成后,读取中心波长。
作为本发明的进一步优选方案,一种基片式温度应变测量FBG传感器性能测试方法,包括如下步骤:
S1、首先选取需要检测的FBG传感器,将FBG传感器接入测试系统中,即将FBG传感器置于Fluke水浴箱中;
S2、通过控制器控制Fluke水浴箱中的温度值,使其Fluke水浴箱中的水温控制在10℃-80℃;
S3、在FBG传感器置于Fluke水浴箱过程中,工作人员每隔30分钟对Fluke水浴箱内的水进行升温、每次升温为5℃,并记录稳定后FBG传感器的中心波长值;
S4、通过统计不同温度值下FBG传感器的中心波长值,并将统计后的数据值属于计算公式进行计算对比,即完成了FBG传感器性能测试的整个过程。
作为本发明的进一步优选方案,所述Fluke水浴箱的控温稳定性0.006℃,水浴槽均匀性0.007℃。
作为本发明的进一步优选方案,所述S1中所述的测试系统包括环形器、Fluke水浴箱、宽带光源和解调仪,所述宽带光源的输出端与环形器的输入端电性连接;所述环形器的输出端与解调仪的输入端电性连接;所述Fluke水浴箱内放置的FBG传感器通过导线与环形器电性连接。
作为本发明的进一步优选方案,一种基片式温度应变测量FBG传感器,FBG传感器中的应变为:
应注意,区段A和B分别表示为tA和tB的厚度。假设每个部分中的应变分布是均匀的,则考虑传感器的平衡得:
EAAAεA=EBABεB
式中E为基片的弹性模量,A为基片的横截面积,ε为应变。,将上述公式进行综合得到传感器应变与FBG应变关系得:
定义传感器应变到FBG应变关系为灵敏度增敏系数K,则
灵敏度系数K小于1的应变灵敏度系数使得高应变的测量成为可能,大与1的应变增敏系数,使得高灵敏度成为可能。
作为本发明的进一步优选方案,一种基片式温度应变测量FBG传感器性能测试方法,对S3中形成的中心波长线随温度变化进行处理,由于第一FBG是全覆盖式封装,利用最小二乘法拟合可得:
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